应用劳埃法测定晶体的取向和对称性

1 前言 劳埃法目前主要用于测定晶体的取向和对称性。多晶材料的性质在相当大的程序上取决于组成它的单晶体,但单晶体是各向异性的,在研究其性能之前须先确定其取向。在很多实际应用中,例如压电石英、金刚石、半导体材料、激光材料以及磁性材料的单晶体定向切割、琢磨、安放等,都需要测定晶体的取向。较常用的测定晶体取向的方法有光学测角仪法,化学刻腐法,X射线法等,其中用X射线法最准确,所受的局限也最小。

应用软X射线对薄材料的测量

1 前言 由于现代科学技术的发展,为子保证产品质量和安全,对细微结构的物体要求无损检测。如工程用金属空心半圆球,外径300微米,内径280微米,壁厚10微米,仅有头发那么粗的球体,加工过程中要求对球体壁厚进行测量,观察壁的厚薄,以便改进工艺和进行修改。在现代长度测量中,对这种细微曲面壁厚的测量,无论是机械精测、超声测厚和涡流测厚,都是无法解决的。然而应用软X射线透照。配合显微放大技术,对测试的金属空心半圆球,则获得较好的结果,精度可达到±1μm。

300EGS·2型X射线探伤仪曝光曲线的制作

1 前言 一九八四年由日本引进300EGS·2型X射线探伤仪一台。该仪器的操作说明书中虽然附有参考曝光曲线,但是由于国产胶片的特性与日本的有很大差异,增感方式也各不相同。为此,根据我国产品的具体条件,制作自己的曝光曲线是很有必要的。2