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LTCC生瓷带缺陷分析与改善对策
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作者 吴纪锐 张志伟 +2 位作者 陈樱琳 朱思新 林亚梅 《电子工艺技术》 2024年第4期59-62,共4页
针对低温共烧陶瓷10~40μm生瓷带生产过程中遇到的缺陷问题,从材料、工艺等多个方面做了详细的分析与验证,确定了导致缺陷的根本原因。提出了通过优化材料形貌、调整浆料配方、控制流延工艺等措施,改善了生瓷带的生产缺陷。
关键词 生瓷带 缺陷分析 缺陷改善
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