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LTCC生瓷带缺陷分析与改善对策
1
作者
吴纪锐
张志伟
+2 位作者
陈樱琳
朱思新
林亚梅
《电子工艺技术》
2024年第4期59-62,共4页
针对低温共烧陶瓷10~40μm生瓷带生产过程中遇到的缺陷问题,从材料、工艺等多个方面做了详细的分析与验证,确定了导致缺陷的根本原因。提出了通过优化材料形貌、调整浆料配方、控制流延工艺等措施,改善了生瓷带的生产缺陷。
关键词
生瓷带
缺陷分析
缺陷改善
下载PDF
职称材料
题名
LTCC生瓷带缺陷分析与改善对策
1
作者
吴纪锐
张志伟
陈樱琳
朱思新
林亚梅
机构
深圳振华富电子有限公司
出处
《电子工艺技术》
2024年第4期59-62,共4页
文摘
针对低温共烧陶瓷10~40μm生瓷带生产过程中遇到的缺陷问题,从材料、工艺等多个方面做了详细的分析与验证,确定了导致缺陷的根本原因。提出了通过优化材料形貌、调整浆料配方、控制流延工艺等措施,改善了生瓷带的生产缺陷。
关键词
生瓷带
缺陷分析
缺陷改善
Keywords
green tape
defect analysis
defect improvement
分类号
TN604 [电子电信—电路与系统]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
LTCC生瓷带缺陷分析与改善对策
吴纪锐
张志伟
陈樱琳
朱思新
林亚梅
《电子工艺技术》
2024
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