电子产品高加速寿命试验方法

高加速寿命试验是产品设计研发初期发现新产品应力缺陷的有效而快速的试验方法,通过它可以快速发现产品潜在的缺陷,以便于提升产品的耐环境适应能力,并极大缩短了产品的研发周期。文中简要介绍了高加速寿命试验的基本原理和一般流程,探讨了高加速寿命试验在不同应力条件下的试验方法。