固体粉末稳态法发射光谱分析新型进样器的研制及应用

介绍了一种新型固体粉末进样装置,它由样品气溶胶喷射系统、高频火花雾化控制电路等部分构成,并阐述了装置的工作原理和结构设计。通过对化探样品中痕量B、Pb、Sn和Ag等元素的对比测定试验表明,利用新研制的进样装置代替原来的双高频火花雾化进样器,可使单样平均残留率由原先的26.7%降到0.79%;对比试验表明,方法的精密度(RSD,n=12)由原先的4.31%～6.81%提高到2.37%～3.43%。