测试失误引起的集成电路失效分析及预防措施

器件测试是发现集成电路潜在缺陷的关键步骤,但由于操作不当,也有可能引入新的失效。通过一个典型的失效案例,分析了器件测试过程中操作人员的不正确操作对器件失效的影响。通过分析器件测试过程中的各个环节因素,识别出器件测试过程中带电操作和使用金属镊子等不合规操作对器件的损伤,阐述了由此引起的器件过电应力失效机理,并提出了预防和控制此类失效的有效措施,对于提高器件的可靠性具有重要的意义。

基于V93000 MTP的存储器测试

随着存储器的不断发展,实现存储器全地址多功能测试所需要的向量深度也迅速地变大,有些甚至已经超出了测试系统本身存储容量的限制,因此,如何压缩测试向量变得至关重要。与基于硬件APG的传统存储器测试方法相比,MTP软件包作为V93000系统推出的内存测试解决方案,具备设置灵活、占内存小、实现方便、可与传统的测试向量共同使用等特点。首先,着重地分析了MTP的特点;然后,详细地介绍了MTL文件的构成;最后,以DDR3器件的测试为例,阐述了存储器测试过程中利用MTP生成测试向量的方法,从而高效、简便地完成了存储器的测试评价。