外延SCNN电光薄膜生长及研究

用激光脉冲沉积(PLD)法在MgO(001)衬底上成功地生长、制备出了外延铌酸锶钡钠(SCNN)电光薄膜.对生长制备出的SCNN电光薄膜用X射线衍射对其微观结构进行了测量研究;X射线衍射结果显示:生长在MgO(001)衬底上的SCNN电光薄膜是外延膜;对生长在MgO(001)衬底上的外延SCNN电光薄膜在200～900nm光谱范围的透射光谱进行了测量研究,通过对薄膜透射光谱的振荡曲线分析计算得到了SCNN电光薄膜的光学常数,结果发现外延SCNN电光薄膜的折射率符合单电子模型.

Bi_(4-x)La_xTi_3O_(12)铁电薄膜结构和光学性能研究

用化学溶液沉积法分别在Si(100)和石英玻璃衬底上成功制备了一系列Bi4-xLaxTi3O12(BLT)铁电薄膜;用X-射线衍射仪测量了不同退火温度和不同掺镧量的BLT薄膜的结晶情况,结果显示随着退火温度的升高BLT薄膜结晶越来越好,镧的掺入并不改变钛酸铋薄膜的钙钛矿结构;用椭偏光谱仪对不同退火温度的BLT薄膜进行了椭偏光谱测量,分析得到了薄膜的光学常数谱;用激光显微拉曼光谱仪对不同掺镧量的BLT薄膜进行激光拉曼谱测量,得到了BLT薄膜振动模式随掺镧量的变化.

表面氧化层效应对测量临界点跃迁的影响:分数维空间方法

运用椭偏技术和分数维空间方法 ,对Si_SiO2 模型考察了表面氧化层的存在对从实验测得的光谱中确定Si临界点跃迁参数的影响 .计算结果表明 ,表面氧化层效应使Si的介电谱发生畸变 ,由此得到的临界点跃迁参数较真值会有一个偏移 :振幅与维度值较小 ,寿命线宽较大 ,并且这种影响随氧化层厚度的增加而加强 .但禁带能受表面氧化层效应的影响却很小 。