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题名Flash型FPGA内嵌BRAM测试技术研究
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作者
雷星辰
季伟伟
陈龙
韩森
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机构
电子科技大学(深圳)高等研究院
中国电子科技集团公司第五十八研究所
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出处
《电子与封装》
2023年第12期14-19,共6页
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文摘
Flash型FPGA由于具有高可靠性、卓越的安全性和即插即用的功能,被广泛应用于军事及航空航天领域。Flash型FPGA的内部结构复杂而庞大,因此研究其测试技术的可靠性和准确性至关重要。块随机存储器(BRAM)作为FPGA内部重要的存储模块,在传统测试中存在故障覆盖率较低的问题。为了扩大故障覆盖范围,对March C+算法进行了改进,优化后算法对写干扰故障(WDF)、写破坏耦合故障(CFwd)、干扰耦合故障(CFds)和字内耦合故障的检测能力得到了显著提高。结果表明,优化后的算法相较于March C+算法,其故障覆盖率提高了25个百分点,且与时间复杂度相同的March SS算法相比,其故障覆盖率提高了5.8个百分点。
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关键词
Flash型FPGA
March
C+算法
BRAM
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Keywords
Flash-based FPGA
March C+algorithm
BRAM
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分类号
TN402
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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