期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
SIPOS障的结构织成
1
作者 谭凌 雷沛云 梁骏吾 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第12期890-896,共7页
采用常压化学气相淀积(APCVD)方法,生长了不同氧含量的SIPOS(半绝缘含氧多晶硅)膜,研究了SIPOS膜的结构组成.SIPOS膜是微晶,多晶和非晶共存的结构,其晶态物中含有缺氧的α-Cristobalite(方... 采用常压化学气相淀积(APCVD)方法,生长了不同氧含量的SIPOS(半绝缘含氧多晶硅)膜,研究了SIPOS膜的结构组成.SIPOS膜是微晶,多晶和非晶共存的结构,其晶态物中含有缺氧的α-Cristobalite(方石英)结构.膜中含氧量可变,以SiOx(x<2)表示,随着氧含量的增加或减少,其结构向非晶或多晶方向移动.膜中氧原子分布不均匀,局部有氧原子微区集中或缺少现象,使X=0或1或2. 展开更多
关键词 SIPOS膜 APVCD法
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部