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SIPOS障的结构织成
1
作者
谭凌
雷沛云
梁骏吾
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第12期890-896,共7页
采用常压化学气相淀积(APCVD)方法,生长了不同氧含量的SIPOS(半绝缘含氧多晶硅)膜,研究了SIPOS膜的结构组成.SIPOS膜是微晶,多晶和非晶共存的结构,其晶态物中含有缺氧的α-Cristobalite(方...
采用常压化学气相淀积(APCVD)方法,生长了不同氧含量的SIPOS(半绝缘含氧多晶硅)膜,研究了SIPOS膜的结构组成.SIPOS膜是微晶,多晶和非晶共存的结构,其晶态物中含有缺氧的α-Cristobalite(方石英)结构.膜中含氧量可变,以SiOx(x<2)表示,随着氧含量的增加或减少,其结构向非晶或多晶方向移动.膜中氧原子分布不均匀,局部有氧原子微区集中或缺少现象,使X=0或1或2.
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关键词
SIPOS膜
硅
APVCD法
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职称材料
题名
SIPOS障的结构织成
1
作者
谭凌
雷沛云
梁骏吾
机构
中国科学院半导体研究所
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第12期890-896,共7页
基金
国家自然科学基金
文摘
采用常压化学气相淀积(APCVD)方法,生长了不同氧含量的SIPOS(半绝缘含氧多晶硅)膜,研究了SIPOS膜的结构组成.SIPOS膜是微晶,多晶和非晶共存的结构,其晶态物中含有缺氧的α-Cristobalite(方石英)结构.膜中含氧量可变,以SiOx(x<2)表示,随着氧含量的增加或减少,其结构向非晶或多晶方向移动.膜中氧原子分布不均匀,局部有氧原子微区集中或缺少现象,使X=0或1或2.
关键词
SIPOS膜
硅
APVCD法
Keywords
Film growth
Insulating materials
Structure (composition)
分类号
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
SIPOS障的结构织成
谭凌
雷沛云
梁骏吾
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995
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