基于补偿法下单片机温/光控系统设计的光敏二极管导电特性的探究

本文介绍一种常用的实验方法——补偿法,用于测量半导体二极管的伏安特性,该方法可以准确得到电流电压特性曲线,并确定半导体二极管的参数。文章首先阐述实验目的和意义,在实验原理部分详细介绍补偿法的原理和流程,在实验装置与操作部分则介绍所需器材和具体操作步骤,在实验结果与分析部分详细介绍相关数据和曲线图,并分析半导体二极管的性质和参数,最后在结论与实验建议部分总结实验结果,并提出相应的改进建议。该实验方法对半导体器件的研究和应用具有重要意义。