期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
光学元件表面疵病视觉检测与评价方法研究
1
作者 冯琰 敬娟 +5 位作者 王雯 张勇 祝捷 李宏 雷骏诚 赵琰 《光学与光电技术》 2024年第5期79-87,共9页
表面疵病是评估光学元件表面质量的重要标准,主要包括划痕和麻点.为了准确评估光学元件的表面质量,提出了一种基于机器视觉的检测与评价方法.根据暗场散射成像原理,搭建了图像采集系统,并通过数字图像处理技术设计了疵病识别系统.基于... 表面疵病是评估光学元件表面质量的重要标准,主要包括划痕和麻点.为了准确评估光学元件的表面质量,提出了一种基于机器视觉的检测与评价方法.根据暗场散射成像原理,搭建了图像采集系统,并通过数字图像处理技术设计了疵病识别系统.基于质量检测标准编写了数字化评价系统,实现了对光学元件表面疵病的检测.实验结果显示,该检测方法对光学元件表面质量的评价结果与人工评价结果一致,匹配度达到 100%,验证了方法的可靠性,有助于实现光学元件表面质量的数字化评价. 展开更多
关键词 表面疵病 光学元件 暗场散射成像 疵病识别 质量评价
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部