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题名光学元件表面疵病视觉检测与评价方法研究
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作者
冯琰
敬娟
王雯
张勇
祝捷
李宏
雷骏诚
赵琰
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机构
西安北方光电股份有限公司
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出处
《光学与光电技术》
2024年第5期79-87,共9页
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文摘
表面疵病是评估光学元件表面质量的重要标准,主要包括划痕和麻点.为了准确评估光学元件的表面质量,提出了一种基于机器视觉的检测与评价方法.根据暗场散射成像原理,搭建了图像采集系统,并通过数字图像处理技术设计了疵病识别系统.基于质量检测标准编写了数字化评价系统,实现了对光学元件表面疵病的检测.实验结果显示,该检测方法对光学元件表面质量的评价结果与人工评价结果一致,匹配度达到 100%,验证了方法的可靠性,有助于实现光学元件表面质量的数字化评价.
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关键词
表面疵病
光学元件
暗场散射成像
疵病识别
质量评价
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Keywords
s surface defects
optical element
dark field scattering imaging
defects identification
quality evaluation
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分类号
TP391.41
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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