热压制备(AgSbTe2)100-x．(GeTe)x合金的热电性能

以Pb粉、Te粉、Ag粉、Ge粉为原材料,在真空气氛下合成(AgSbTe_2)_(100-x)-(GeTe)_x(x=80-90)(TAGS)合金热电材料,X射线衍射(XRD)分析表明,热压烧结后合金具有低温菱形结构.通过热压烧结法将TAGS粉末制备成块体材料,运用XRD和扫描电子显微镜对材料的物相成分、晶体结构和形貌进行了表征.采用直流四探针法测定样品的电导率,当样品两端的温差为1—4℃的情况下测量Seebeck系数.通过材料热电性能测试,研究了30—500℃温度范围内不同组分样品性能参数的变化.结果表明,所制备的TAGS热电材料具有纳米结构,其性能随着组分的变化而变化,TAGS-80具有较好的热电性能,在530℃时具有最高热电优值(ZT=1.80).