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无铅转移与过渡技术 被引量:1
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作者 潘开林 周斌 +1 位作者 颜毅林 韦荔莆 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2007年第2期142-146,共5页
阐述了在无铅转移过程中涉及的可制造性与可靠性问题,包括无铅转移对元器件、印制电路板与焊点的影响以及它们相互之间的兼容问题。重点论述了前向兼容与后向兼容、锡须、空洞与微空洞、可焊性涂层以及如何避免无铅转移中出现的问题。
关键词 无铅 可制造性 可靠性 兼容性
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