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无铅转移与过渡技术
被引量:
1
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作者
潘开林
周斌
+1 位作者
颜毅林
韦荔莆
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第2期142-146,共5页
阐述了在无铅转移过程中涉及的可制造性与可靠性问题,包括无铅转移对元器件、印制电路板与焊点的影响以及它们相互之间的兼容问题。重点论述了前向兼容与后向兼容、锡须、空洞与微空洞、可焊性涂层以及如何避免无铅转移中出现的问题。
关键词
无铅
可制造性
可靠性
兼容性
下载PDF
职称材料
题名
无铅转移与过渡技术
被引量:
1
1
作者
潘开林
周斌
颜毅林
韦荔莆
机构
桂林电子科技大学机电与交通工程系
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第2期142-146,共5页
文摘
阐述了在无铅转移过程中涉及的可制造性与可靠性问题,包括无铅转移对元器件、印制电路板与焊点的影响以及它们相互之间的兼容问题。重点论述了前向兼容与后向兼容、锡须、空洞与微空洞、可焊性涂层以及如何避免无铅转移中出现的问题。
关键词
无铅
可制造性
可靠性
兼容性
Keywords
lead-free
manufaeturability
reliability
compatibility
分类号
TN305.94 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
无铅转移与过渡技术
潘开林
周斌
颜毅林
韦荔莆
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007
1
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