红外成像导引系统抗干扰性能评估研究

为解决红外成像导引系统抗干扰性能难于定量评估问题,给出了一种新的评估指标体系。首先通过详细分析红外光学系统、调制器、探测器、图像处理系统、陀螺伺服系统的性能参数,得到红外导引系统在抗干扰过程中的固有性能指标;然后规划了在不同仿真条件下的抗干扰仿真实验,得到抗干扰识别算法概率和各种干扰因素的数据;最后采用层次分析法建立了红外成像导引系统抗干扰性能计算模型,并用算例进行了计算,结果表明该指标体系具有一定的实用性。