-
题名介绍一种高性能低价格的通用数字IC测试仪
- 1
-
-
作者
韩树梁
-
机构
赛格研究开发院
-
出处
《微电子测试》
1995年第1期20-22,共3页
-
文摘
IC测试仪分为两类,一类是专用IC测试仪,另一类是通用IC测试仪。专用IC测试仪只用于某一特定产品,其优点是结构简单因而制做成本低;缺点是设计投入高,仪器精度较低而且没有灵活性。如果该产品停止生产,就会造成浪费。通用IC测试仪一般性能优异,一台仪器可测试多种产品,但是价格较高,通常每台售价达数万至数十万美元,高性能的IC测试系统售价更达数百万美元。为解决这一难题,华智(香港)有限公司集十年IC测试方面的经验。
-
关键词
数字测试
集成电路
测试仪
-
分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
TM932
[电气工程—电力电子与电力传动]
-