中温面源黑体设计及性能参数测试

中温面源黑体是一种宽带红外参考源,其波长范围覆盖了从近红外到远红外的波段,辐射面的温度具有很高的精度。作为高辐射强度的参考源,中温面源黑体已被广泛应用于红外传感器如辐射温度计、红外热像仪的校准以及样品辐射率或透过率的测量。用基于大辐射面和坚实结构的面源黑体在实验室内或野外测试中对无准直仪时的红外传感器进行了标定。为了提供红外系统性能测试的解决方案,本文对中温面源黑体进行了设计和性能参数测试。结果表明,其主要参数能满足高稳定度和高精度的要求。

局域态密度对表面等离激元特性影响的研究

表面等离激元是一种在金属与介质界面上激发并耦合电荷密度起伏的电磁振荡,具有近场增强和短波长等特性,在纳米光子学的研究中扮演重要角色.将表面等离激元的效应用于单元子源的制备,不但可以有效减小器件的体积,而且可以有效提高单光子的辐射和收集效率.本文根据表面等离激元的珀赛尔系数与光子态密度的关系,采用局域态密度计算的方法,分析了不同金属材料的局域态密度及珀赛尔系数的特性.通过计算比较,选择银为最佳金属材料,并在此基础上讨论了探测距离和电介质材料对局域态密度和珀赛尔系数的影响,为基于表面等离子激元的单光子源制备提供重要参数.

面源黑体红外辐射面均匀性测量研究

面源黑体在红外光学系统及测试仪器的研制过程中有着广泛的应用。面源黑体红外辐射的均匀性直接影响整个测试和校准系统的可靠性和准确性。针对面源黑体红外辐射面均匀性的测试需求，提出了一种基于高分辨率、高精度红外辐射测温和实时校准的面源黑体红外辐射均匀性测量方法。实验证明该方法可以满足测试精度的需求，能够为面源黑体在均匀性校正中应用提供参考依据。