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题名199D系列钽电容器典型缺陷模式及检测方法研究
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作者
王宇
任建波
李泱
顾崟
张湃
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机构
中国运载火箭技术研究院
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出处
《集成电路应用》
2020年第7期22-24,共3页
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基金
中国运载火箭技术研究院技术创新课题项目。
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文摘
基于199D系列钽电容器是一种引线式固体坦电解电容器,在工作中主要起到滤波的作用,广泛应用于航天领域中。为保障199D系列钽电容器的可靠使用,对该系列钽电容器的结构特点和使用失效情况进行分析,梳理和总结出典型的缺陷模式。根据得到的缺陷模式,设计新的检测方法进行试验,最终验证新的检测方法更能有效检测出199D系列钽电容器的潜在缺陷。
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关键词
电子器件
199D系列钽电容器
典型缺陷模式
检测方法
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Keywords
electronic device
199D series tantalum capacitor
typical defect mode
detection method
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分类号
TN406
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名A3型封装器件冲击、振动环境试验载具的设计
被引量:1
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作者
宋毅刚
任建波
王宇
李旭红
温景超
顾崟
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机构
中国运载火箭技术研究院物流中心
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出处
《电子技术(上海)》
2020年第7期76-77,共2页
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文摘
阐述A3型圆形封装器件振动、冲击试验载具的设计方法,设计优化点,实现方法,试验载具的实现,从而解决了A3型圆形封装器件振动、冲击可试验的问题,对该型器件在工程的应用起到有效作用。
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关键词
控制技术
夹具设计
器件振动
冲击试验
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Keywords
control technology
fixture design
device vibration
shock test
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分类号
TN05
[电子电信—物理电子学]
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题名CPGA型器件机械试验夹具设计
被引量:1
- 3
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作者
宋毅刚
石帅
王宇
李泱
顾崟
任建波
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机构
中国运载火箭技术研究院
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出处
《电子技术(上海)》
2021年第3期16-17,共2页
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文摘
阐述CPGA高密度管脚封装器件,通常为超大规模集成电路、型号系统的核心器件,此器件通常内部引线多,而且密集,容易受到振动、冲击环境的影响。探讨CPGA型封装器件振动、冲击试验夹具需求的必要性,并从该试验夹具设计的总体方案、设计的工艺、特点、设计的优化、设计的结构、设计的实施方案,该试验夹具的实现。
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关键词
针栅阵列
夹具设计
集成电路封装
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Keywords
pin grid array
fixture design
integrated circuit packaging
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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