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199D系列钽电容器典型缺陷模式及检测方法研究
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作者 王宇 任建波 +2 位作者 李泱 顾崟 张湃 《集成电路应用》 2020年第7期22-24,共3页
基于199D系列钽电容器是一种引线式固体坦电解电容器,在工作中主要起到滤波的作用,广泛应用于航天领域中。为保障199D系列钽电容器的可靠使用,对该系列钽电容器的结构特点和使用失效情况进行分析,梳理和总结出典型的缺陷模式。根据得到... 基于199D系列钽电容器是一种引线式固体坦电解电容器,在工作中主要起到滤波的作用,广泛应用于航天领域中。为保障199D系列钽电容器的可靠使用,对该系列钽电容器的结构特点和使用失效情况进行分析,梳理和总结出典型的缺陷模式。根据得到的缺陷模式,设计新的检测方法进行试验,最终验证新的检测方法更能有效检测出199D系列钽电容器的潜在缺陷。 展开更多
关键词 电子器件 199D系列钽电容器 典型缺陷模式 检测方法
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A3型封装器件冲击、振动环境试验载具的设计 被引量:1
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作者 宋毅刚 任建波 +3 位作者 王宇 李旭红 温景超 顾崟 《电子技术(上海)》 2020年第7期76-77,共2页
阐述A3型圆形封装器件振动、冲击试验载具的设计方法,设计优化点,实现方法,试验载具的实现,从而解决了A3型圆形封装器件振动、冲击可试验的问题,对该型器件在工程的应用起到有效作用。
关键词 控制技术 夹具设计 器件振动 冲击试验
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CPGA型器件机械试验夹具设计 被引量:1
3
作者 宋毅刚 石帅 +3 位作者 王宇 李泱 顾崟 任建波 《电子技术(上海)》 2021年第3期16-17,共2页
阐述CPGA高密度管脚封装器件,通常为超大规模集成电路、型号系统的核心器件,此器件通常内部引线多,而且密集,容易受到振动、冲击环境的影响。探讨CPGA型封装器件振动、冲击试验夹具需求的必要性,并从该试验夹具设计的总体方案、设计的... 阐述CPGA高密度管脚封装器件,通常为超大规模集成电路、型号系统的核心器件,此器件通常内部引线多,而且密集,容易受到振动、冲击环境的影响。探讨CPGA型封装器件振动、冲击试验夹具需求的必要性,并从该试验夹具设计的总体方案、设计的工艺、特点、设计的优化、设计的结构、设计的实施方案,该试验夹具的实现。 展开更多
关键词 针栅阵列 夹具设计 集成电路封装
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