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薄层树脂相吸光光度法测定痕量钴的研究 被引量:4
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作者 王香 李毅 +3 位作者 崔桂君 闫永胜 李春香 马佩领 《光谱实验室》 CAS CSCD 1999年第5期545-547,共3页
本文提出用薄层树脂相通过光度法测定痕量钴的新方法。本法 具有灵敏度高、选择性好、速度快等特点。钴离子(Ⅱ)与[4(5氯二吡啶)偶氮]1,3二氨基苯(简称 5 C L P A D A B)生 成稳定的 有色配合 物,... 本文提出用薄层树脂相通过光度法测定痕量钴的新方法。本法 具有灵敏度高、选择性好、速度快等特点。钴离子(Ⅱ)与[4(5氯二吡啶)偶氮]1,3二氨基苯(简称 5 C L P A D A B)生 成稳定的 有色配合 物,将其富集在 H+ 型(732# )阳离子交换树 脂上,制作成簿层直接 测定,λm a x = 571n m 。本法既克服 了需特制1m m比色皿的困 难,又提高了测 定精密度, 使推广树 脂相光度 法成为可能 。用本法实 测了天然 水中痕量 钴,检出限2.8μg· L- 1 ,回收率≥98% 。 展开更多
关键词 薄层树脂相 光度法 测定
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