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组合电路的随机检测长度分析
1
作者
王辉军
马冀民
《北京化工学院学报》
CSCD
北大核心
1991年第4期79-87,共9页
超大规模集成电路及所伴随问题的出现,在数据产生和检测方式有效性的分析方面再次引发了对随机检测的兴趣,即网络的输入采用随机方式,在实际应用中可采用线性反馈移位寄存器(LFSR)来产生输入向量。作者分析了在组合逻辑中测试长度与随...
超大规模集成电路及所伴随问题的出现,在数据产生和检测方式有效性的分析方面再次引发了对随机检测的兴趣,即网络的输入采用随机方式,在实际应用中可采用线性反馈移位寄存器(LFSR)来产生输入向量。作者分析了在组合逻辑中测试长度与随机检测之间的关系,并讨论了用随机法测试延迟路径的能力。
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关键词
集成电路
组合电路
随机测试
下载PDF
职称材料
题名
组合电路的随机检测长度分析
1
作者
王辉军
马冀民
机构
北京化工学院计算机系
出处
《北京化工学院学报》
CSCD
北大核心
1991年第4期79-87,共9页
文摘
超大规模集成电路及所伴随问题的出现,在数据产生和检测方式有效性的分析方面再次引发了对随机检测的兴趣,即网络的输入采用随机方式,在实际应用中可采用线性反馈移位寄存器(LFSR)来产生输入向量。作者分析了在组合逻辑中测试长度与随机检测之间的关系,并讨论了用随机法测试延迟路径的能力。
关键词
集成电路
组合电路
随机测试
Keywords
random testing, path delay, combinatorial logic, testing length.
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
组合电路的随机检测长度分析
王辉军
马冀民
《北京化工学院学报》
CSCD
北大核心
1991
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