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用迈克尔逊干涉仪测量单层薄膜的厚度和折射率 被引量：10
1
作者 沈朝晖 王晶 马延钧 《大学物理实验》 1994年第1期1-3,共3页
薄膜厚度的测量是薄膜科学的重要分支之一，本文讨论用迈克尔逊干涉仪观察白光等厚彩色干涉条纹方法，从而确定薄膜的厚度和折射率，该方法的优点是测量精度高，原理简单，在一次测量过程中可同时确定薄膜的厚度和折射率。
关键词 迈克尔逊干涉仪 光程 薄膜厚度 折射率 等厚干涉 反射率
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磁记录与磁光记录 被引量：2
2
作者 马延钧 《北京轻工业学院学报》 1998年第3期85-90,共6页
信息的可擦重写磁光记录方式克服了磁记录方式信息密度较小的缺点，本文从磁记录原理出发介绍了磁光记录的原理及其近期发展，概述了这两种技术对记录介质的技术要求，并对记录材料的最新进展进行了述评．
关键词 磁记录 磁光记录 磁滞回线 矫顽力 磁盘
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