基于STM32的数字集成电路测试仪的设计

设计了一种基于STM32的数字集成电路测试仪,用于检测74LS00、74LS20等实验教学中常用的74系列芯片。系统将功能测试法和参数测试法相结合,以检测被测芯片的逻辑功能和扇出能力。采用STM32F103VET6作为微控制器,通过按键可对其进行操作,构建了引脚配置与选择单元,以满足74系列芯片的引脚需求,利用A/D转换单元来获取输出电流,测试结果在LCD屏中显示。实际测试结果表明:该测试仪操作简单,测试时间短,能准确测量芯片的性能,满足实验教学的需求。

基于阈值法的数字集成电路测试仪的研制

研制了一种基于阈值法的数字集成电路测试仪,用于检测74LS10、74LS138等74LS系列芯片的性能。该测试仪采用两片STM8型微控制器作为核心单元,通过测试向量集来判断芯片的性能,测试结果输出到LCD显示屏中。实际测试结果表明:该测试仪操作灵活,测试速度快,能准确检测芯片的状态,满足芯片诊断的需求。