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如何提高G652D光纤宏弯损耗测试效率?
1
作者 王利英 马爱惠 黄强 《通信世界》 2010年第42期31-31,共1页
Φ60mm＊100作为标准明确规定的一种测试方法,其准确性的提高需依赖于测试装置的改良。
关键词 测试效率 损耗 光纤 测试方法 测试装置 宏
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关于G652D光纤宏弯损耗测试方法的实践及数据分析
2
作者 王利英 马爱惠 黄强 《网络电信》 2010年第12期55-56,共2页
通过对G652D光纤宏弯损耗的测试跟踪，比较Φ60mm＊100圈和Φ32mm＊1圈两种方法的数据差异，同时利用大量数据观察了光纤宏弯损耗与截止波长的相关性。
关键词 光纤 宏弯损耗 截止波长
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