基于QDRII的一种PXI任意波形发生器数字部分的设计

随着测试技术的发展,对信号的要求越来越高,高采样率任意波形发生器被广泛应用于各种测试系统中。文章重点介绍了在PXI3U板卡上实现采样率高达200MS/S的任意波形发生器模块的设计。设计中采用QDRII代替了SRAM,解决了由于存储器带宽过小而阻碍任意波形采样率提高的问题。