一种用于芯片测试的IO复用电路

本文提出了一种适用于芯片测试的IO复用电路,该电路对不同电压域的IO功能信号和测试信号进行区分。当输入IO电压高于VDD+|V_(THP)|时,高压检测通路打开,将输入IO信号转换为测试控制信号;当输入信号为VDD时,低压检测通路打开,完成芯片正常功能信号的输入。本文采用SMIC 0.18μm BCD工艺对上述电路进行设计和实现,其面积为21μm×36μm,该IO复用电路应用于芯片出厂测试时的片上一次可编程电路(OTP)烧写控制中。仿真和测试结果表明,在IO输入高电压信号时,IO复用电路能够将其有效识别为测试信号,并对OTP进行烧写控制;当IO输入VDD电压域信号时,IO复用电路能够将其有效识别为功能信号,进行芯片正常的功能控制,证明了本文所提出电路的可行性和有效性。

一种低成本高精度电压张弛型振荡器

提出了一种具有高精度的低成本电压张弛振荡器。该振荡器使用双电容交替充放电结构,使得振荡器输出方波的高/低电平持续时间都只和基准电流对电容的充电时间有关,而和电容的放电时间无关,稳定了输出方波的占空比。电容的充电时间由基准电流和电容的容值决定,因此振荡器输出波形的频率具有较低的温漂。同时,该振荡器使用了三输入两输出的比较器来控制电容的充放电开关,省去了1/2分频电路,从而减少了数字逻辑引起的延迟和保持电容的电压过冲,提高了振荡器输出频率的稳定性。该振荡器采用SMIC 180 nm BCD工艺进行设计和制造,振荡频率为4 MHz,面积为0.0027 mm^(2)。测试结果表明,当温度从-40℃变化到125℃时,实测最大频率误差为0.9%、功耗为12.6μW。