P型4H-SiC少数载流子寿命的研究

为了更好地了解P型4H-SiC的电学特性,评价其晶体质量,利用激光和微波技术作为非接触、非破坏性测量半导体特性的一种工具,详细描述了该测试方法和实验装置,讨论了高温退火前后晶片中少数载流子寿命的变化,并用LabVIEW对测试数据进行了拟合。结果表明:高温退火能提高载流子寿命,并且实验数据与拟合结果较符合。说明了微波光电导衰减法(μ-PCD)是一种测试少子寿命的快速、有效方法,对研究半导体材料性能具有重要意义;同时,研究高温退火条件下少子寿命的变化,对提高其材料的电性能也具有重要意义。

基于深能级瞬态谱的深能级中心的仿真

介绍了深能级瞬态谱(DLTS)的基本原理,作了n型样品的深能级瞬态谱的计算。描述了DLTS信号的仿真方法,对n型6H-SiC中的一个深能级陷阱中心用Labview进行了仿真实验,探讨了率窗值等各参数对DLTS信号形状的影响。仿真结果表明,DLTS峰值温度及半宽度随着所有的参数改变而变化,但峰值的高度只与率窗值的选择有关。

微波光电导衰减法测量N型4H-SiC少数载流子寿命

为了更好地了解N型4H-SiC的电学特性,评价其晶体质量,采用激光技术和微波光电导作为非接触、非破坏性测量半导体特性的一种工具,描述了其测试原理和实验装置,并讨论了不同的激发强度下,其少数载流子寿命的变化。结果表明,改变入射激光能量(即光子注入水平),样品电压峰值与激发强度成正比,对其载流子寿命几乎没有影响。该方法能方便快捷地测量载流子的寿命,对SiC材料性能的研究具有重要意义。

强噪声背景下的微弱信号检测新方法

提出新的强噪声背景下的微弱信号检测方法,设计一种硬件与软件相结合的实现方案。采用经典的仪表放大技术和单片机控制技术对数据进行检测和处理,并通过虚拟仪器技术仿真和显示,为解决热释电红外探测器中μA级微弱信号的检测提供了十分有效的方法。最后通过对模拟低频微弱信号的检测实验,充分显示该系统在微弱信号检测方面的实用性和优越性。

探究电梯故障诊断中神经网络技术的应用

随着高层建筑的增多,电梯成为人们生产生活中必不可少的一个交通工具。在电梯出现故障时能迅速实现故障诊断,也变得尤为重要。人工智能技术在电梯的故障诊断中应用广泛,且效果良好。本文以电梯故障诊断为切入点,通过MATLAB搭建BF神经网络诊断模型进行模拟仿真,实验结果表明BF神经网络诊断模型可以快速实现故障诊断。