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电容器常见漏电失效模式分析及应用建议 被引量:4
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作者 崔德胜 陈朝杰 +2 位作者 彭磊 熊盛阳 高憬楠 《电子元件与材料》 CAS CSCD 2017年第9期38-42,共5页
分析了近年来发生的电容器漏电失效典型案例,研究了瓷介电容器和钽电解电容器的漏电失效机理,分析表明金属迁移和介质层缺陷是导致电容器产生漏电流的主要原因。以电容器漏电流产生的理论机理为基础,从选择、检验和使用可靠性角度,提出... 分析了近年来发生的电容器漏电失效典型案例,研究了瓷介电容器和钽电解电容器的漏电失效机理,分析表明金属迁移和介质层缺陷是导致电容器产生漏电流的主要原因。以电容器漏电流产生的理论机理为基础,从选择、检验和使用可靠性角度,提出了一系列电容器选型建议、检验准则和使用要求,以确保电容器在航天等高可靠领域的应用。 展开更多
关键词 瓷介电容器 钽电解电容器 漏电 可靠性 选用 航天
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汽车级电子器件的标准与应用分析
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作者 崔德胜 宋航琪 +2 位作者 邬文浩 陈朝杰 高憬楠 《电子技术(上海)》 2024年第4期158-159,共2页
阐述无源元件标准体系及产品规范,分析AEC规范与国军标在抽样、试验项目、试验条件、失效判据中的差异及原因。探索汽车级无源元件标准对航天应用的可借鉴性。
关键词 计算机技术 业务架构 技术架构 微服务拆分
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