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题名FIFO在高速数据采集系统中应用
被引量:27
- 1
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作者
高礼忠
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机构
东南大学
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出处
《电子测量技术》
2005年第1期51-52,共2页
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文摘
文中介绍于同步FIFO和DSP的高速数据采集系统,并针对采集的触发要求,具体讨论FIFO在该系统中的应用方法和技巧。该系统已成功地应用。同步FIFO的运用方便DSP对采集数据的存取控制、提高DSP的的工作效率。
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关键词
高速数据采集系统
FIFO
存取控制
DSP
同步
触发
应用方法
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Keywords
data acquisition
FIFO
DSP
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分类号
TN911.72
[电子电信—通信与信息系统]
TP274
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名边界扫描测试中TAP控制器设计
被引量:4
- 2
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作者
高礼忠
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机构
东南大学
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出处
《电子测量技术》
2002年第6期10-11,共2页
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文摘
文中介绍了边界扫描测试硬件的构成,重点讨论其核心部分TAP控制器的功能、原理及设计,并给出模拟仿真的结果。
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关键词
边界扫描
测试
TAP控制器
原理
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Keywords
Boundary-scan test TAP controller
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分类号
TP334.22
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名边界扫描技术的应用扩展
被引量:1
- 3
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作者
高礼忠
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机构
东南大学无线电工程系
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出处
《国外电子测量技术》
2001年第6期12-16,共5页
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文摘
本文讨论了边界扫描技术在样机电路板调试中的应用以及扩展到产品板制造、系统集成和现场服务等方面应用的技术问题。
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关键词
边界扫描
测试
样机电路板
扩展
大规模生产
系统集成
服务
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Keywords
Boundary-scan, test, extension.
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
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题名I_(DDQ)可测的PLA的结构
- 4
-
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作者
高礼忠
杨吉祥
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机构
东南大学
无线电工程系
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出处
《国外电子测量技术》
2001年第2期17-19,共3页
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文摘
本文讨论了动态CMOS PLA的故障检测问题,并提出了一种可运用I_(DDQ)测试技术有效检测桥接故障、泄漏故障的动态CMOS
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关键词
IDDQ
故障检测
可编程逻辑阵列
结构
集成电路
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Keywords
IDDQ,PLA, fault test.
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分类号
TN791
[电子电信—电路与系统]
TN492
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名I_(DDQ)可测的动态PLA结构的进一步讨论
- 5
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作者
高礼忠
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机构
东南大学无线电工程系
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出处
《国外电子测量技术》
2001年第3期25-26,共2页
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文摘
本文提出了一种改进的I_(DDQ)可测的动态CMOS PLA电路结构,并讨论了对该结构PLA运用I_(DDQ)测试技术检测交叉点晶体管开路故障、桥接故障的问题。
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关键词
IDDQ可测
PLA结构
CMOS
逻辑电路
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Keywords
IDDQ PLA fault detection
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分类号
TN791
[电子电信—电路与系统]
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题名高等学校跨院系校级平台课建设实践与体会
被引量:4
- 6
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作者
戴先中
马旭东
徐悦
高礼忠
顾群
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机构
东南大学自动化学院
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出处
《电气电子教学学报》
2008年第3期1-3,共3页
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基金
江苏省教改重点课题"跨院系校级平台课建设模式与建设规范的研究与实践"资助
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文摘
作为江苏省教改重点课题"跨院系校级平台课建设模式与建设规范的研究与实践"总结的一部分,本文将介绍东南大学子课题组围绕"微机系统与接口"校级平台课建设开展的实践,是系列文章的第三篇。重点针对9个学院就如何组织、建设好教学团队,并探索规范建设(尝试统一考试等)展开讨论,得到了一些有深刻体会与建设性意见。
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关键词
跨院系
校级平台课
微机系统与接口
建设实践
建设体会
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Keywords
university-level platform courses
microcomputer system and interface
construction practice
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分类号
G420
[文化科学—课程与教学论]
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题名开展VLSI设计教育培养ASIC设计人才
被引量:4
- 7
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作者
田良
高礼忠
冯军
宋继亮
黄頲
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机构
东南大学无线电系电路学科组
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出处
《电气电子教学学报》
2001年第2期13-16,20,共5页
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文摘
通过对微电子技术发展水平的分析,提出了对电路学科的课程设置、教学内容及实验手段进行全面改革的方案和措施,并进行了实践。结果表明,改革后无线电系培养的学生初步具备了设计ASIC芯片和复杂电子系统的能力,从而改变了电路学科的教育落后于微电子发展的现状。
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关键词
微电子
VLSI
ASIC
教学改革
人才培养
集成电路
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Keywords
microelectronics
VLSI
ASIC
teaching reform
foster talented persons
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分类号
TN4-4
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名设计任意序列的一种新方法
被引量:2
- 8
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作者
沈正元
高礼忠
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机构
东南大学无线电系
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出处
《电气电子教学学报》
2000年第3期27-28,共2页
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文摘
提出了采用规则序列及其合成的新方法来设计任意序列。这种新方法既可使设计变得十分简单,又能保证所设计的电路必定能自启动。尤其值得注意的是,这种新方法可以方便地实现。(1)序列长度可改变;(2)序列中“1”游程、“0”游程的长度及其排列可改变;(3)多个同步序列的设计这三种过去较为困难的设计。
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关键词
任意序列
规则序列
序列合成
设计方法
数字电路
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Keywords
arbitrary sequences Fregular sequences 3 sequence syntheses Fself-starting
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分类号
TN790.2
[电子电信—电路与系统]
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题名长度为合数的任意序列的设计
- 9
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作者
沈正元
高礼忠
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机构
东南大学无线电工程系
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出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2002年第2期26-28,共3页
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基金
东南大学科学基金资助项目 (编号为 :92 0 4 0 0 1 0 80 )
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文摘
本文对长度为合数的任意序列采用规则序列及序列合成的新方法来设计做了进一步探讨。结果表明 。
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关键词
长度
合数
设计
任意序列
规则序列
序列合成
子序列
非线性移存器序列
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Keywords
Arbitrary sequences,regular sequences,sequences syntheses,subsequnces
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分类号
TP332.11
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名数字示波器中海量存储的实现
被引量:3
- 10
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作者
陈鑫
高礼忠
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机构
东南大学信息科学与工程学院
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出处
《电子测量技术》
2008年第8期193-195,共3页
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文摘
对于数字示波器,除了模拟带宽、实时采样率之外,存储深度也是一个重要技术指标。本文介绍了存储深度的提高对于数字示波器测量、调试信号的影响和意义,提出了采用DDR2SDRAM作为海量存储介质的方案,并成功在FPGA上进行验证实现。
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关键词
数字示波器
海量存储深度
DDR2
SDRAM
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Keywords
DSO
long record length
DDR2 SDRAM
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分类号
TM935.37
[电气工程—电力电子与电力传动]
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题名ARM通信接口在数字荧光示波器中的应用
被引量:1
- 11
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作者
林翔宇
高礼忠
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机构
东南大学信息科学与工程学院
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出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2008年第S2期105-107,共3页
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文摘
本文主要讨论了ARM系统中外部设备数据传输的工作原理,并基于数字荧光示波器系统讨论了S3C2410和FPGA之间大量数据高效、快速传输的接口设计,给出了该接口的硬件设计方案,以及Linux操作系统下的设备驱动程序。该接口已成功应用于开发的数字荧光示波器样机中,经测试达到预定的功能指标。
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关键词
通信接口
ARM微处理器
嵌入式LINUX
数字荧光示波器
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Keywords
Communication Interface
ARM processor
Embeded Linux
DPO
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分类号
TM935.3
[电气工程—电力电子与电力传动]
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题名基于BREW的手机软件模块设计
被引量:1
- 12
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作者
赵建祥
高礼忠
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机构
东南大学信息科学与工程学院
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出处
《仪器仪表用户》
2009年第5期47-49,共3页
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文摘
BREW是高通公司为了适应数据通信业务应用的日益广泛而推出的一个开发平台。本文阐述了BREW技术的特点,设计了基于BREW的上层手机软件工作平台,给出了详细的模块划分及工作机制。
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关键词
BREW
消息机制
状态机
BREW扩展
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Keywords
BREW
message mechanism
state machine
BREW extension
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分类号
TP311.52
[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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题名IEEE 1149.1测试的扩充
- 13
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作者
高礼忠
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出处
《国外电子测量技术》
2001年第1期11-12,20,共3页
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文摘
本文讨论了专用边界扫描控制器在PCB板测试中的应用以及如何提高测试数据吞吐量的问题,讨论了专用边界扫描控制器结合传统的在线自动测试设备和飞线探测器在生产环境中的应用。
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关键词
边界扫描
IEEE1149.1
PCB板测试
专用边界扫描控制器
在线自动测试设备
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分类号
TN410.7
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名ATE市场关注的新焦点——混合信号器件的测试
- 14
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作者
高礼忠
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出处
《国外电子测量技术》
1995年第2期37-37,共1页
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文摘
新器件工艺的不断出现为当今ATE(自动测试设备)市场注入了新的活力。为适应这一潮流,ATE制造商们迅速采取措施,扩展仪器功能,提高性能价格比。
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关键词
ATE
自动测试设备
混合信号测试
市场
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分类号
F407.63
[经济管理—产业经济]
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