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基于边缘效应的绕组损耗估算
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作者 高适(编辑) 姜劲(校) 《磁性元件与电源》 2012年第1期128-134,137,共8页
文章提出了-种简单的方法,给出了包括二维(2-D)边缘效应在内的绕组交流(ac)损耗的估算方法。文章首先叙述用-维(1-D)分析法估算线绕绕组的损耗。然而,因为二维(2-D)边缘效应引起的附加绕组损耗非常明显,但又不能用1-D方法分... 文章提出了-种简单的方法,给出了包括二维(2-D)边缘效应在内的绕组交流(ac)损耗的估算方法。文章首先叙述用-维(1-D)分析法估算线绕绕组的损耗。然而,因为二维(2-D)边缘效应引起的附加绕组损耗非常明显,但又不能用1-D方法分析估算,故本文在1-D分析方法的基础上建立起了-组用1—D分析结果作校正系数的2-D边缘效应估算法。文章还采用有限元分析(FEA)法验证了所估算的结果。 展开更多
关键词 边缘效应 铜箔绕组 高频交流损耗 二维(2-D)分析法
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