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倒装焊封装对MEMS器件性能影响的有限元分析研究
1
作者
魏松胜
唐洁影
宋竞
《中国机械工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第4期446-451,共6页
对2×2、4×4、6×6、8×8面阵列凸点分布形式的倒装芯片分别进行了建模和模拟,分析了面阵列倒装芯片在常规温度载荷下芯片表面应力分布和变形的一般规律,并分析比较了凸点分布形式、基板类型对面阵列倒装芯片表面应力...
对2×2、4×4、6×6、8×8面阵列凸点分布形式的倒装芯片分别进行了建模和模拟,分析了面阵列倒装芯片在常规温度载荷下芯片表面应力分布和变形的一般规律,并分析比较了凸点分布形式、基板类型对面阵列倒装芯片表面应力分布的影响,在此基础上估算了应力和变形对典型MEMS器件的影响。对于常规4×4面阵列情况,倒装焊后的悬臂梁吸合电压的最大相对变化率为5%,而固支梁一阶固有谐振频率最大相对变化率为110%。
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关键词
倒装芯片
凸点分布
有限元方法
吸合电压
谐振频率
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职称材料
题名
倒装焊封装对MEMS器件性能影响的有限元分析研究
1
作者
魏松胜
唐洁影
宋竞
机构
东南大学MEMS教育部重点实验室
出处
《中国机械工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第4期446-451,共6页
基金
武器装备预先研究资助项目
国家863高技术研究发展计划资助项目(2007AA04Z320)
文摘
对2×2、4×4、6×6、8×8面阵列凸点分布形式的倒装芯片分别进行了建模和模拟,分析了面阵列倒装芯片在常规温度载荷下芯片表面应力分布和变形的一般规律,并分析比较了凸点分布形式、基板类型对面阵列倒装芯片表面应力分布的影响,在此基础上估算了应力和变形对典型MEMS器件的影响。对于常规4×4面阵列情况,倒装焊后的悬臂梁吸合电压的最大相对变化率为5%,而固支梁一阶固有谐振频率最大相对变化率为110%。
关键词
倒装芯片
凸点分布
有限元方法
吸合电压
谐振频率
Keywords
flip chip
bumps-layout
finite element method(FEM)
pull-in voltage
resonant frequency
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
倒装焊封装对MEMS器件性能影响的有限元分析研究
魏松胜
唐洁影
宋竞
《中国机械工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010
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