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基于轴对称喷流的背景纹影测量方法对比研究
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作者 魏祥智 史经纬 +1 位作者 周莉 王占学 《风机技术》 2024年第5期59-62,共4页
背景纹影(BOS)是一种基于光线折射的非接触式流场测量技术,可以定量获得流场的密度信息。与层析技术结合的背景纹影层析技术(BOST)能够实现三维密度场重建。本文针对轴对称喷管,采用BOS方法测量获得了超声速喷流的二维密度分布,在轴对... 背景纹影(BOS)是一种基于光线折射的非接触式流场测量技术,可以定量获得流场的密度信息。与层析技术结合的背景纹影层析技术(BOST)能够实现三维密度场重建。本文针对轴对称喷管,采用BOS方法测量获得了超声速喷流的二维密度分布,在轴对称假设下采用BOST方法重构了其三维密度场并与二维结果进行对比。研究表明,二维BOS将视线积分的流场信息进行平均,忽略了沿光路方向流场结构变化所带来的影响,BOST模型中包含多个角度的投影信息,更准确地重建了喷流的三维结构和高空间分辨率的密度场。 展开更多
关键词 背景纹影 背景纹影层析 轴对称喷流 定量测量 密度场 三维重建
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