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强流溅射源束流杂质的分析和消除
1
作者
夏清良
孟波
+3 位作者
魏蒙存
包轶文
王晓飞
游曲波
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2017年第4期753-755,共3页
在北京HI-13串列加速器上使用强流溅射源引出某些离子时,总是含有不必要的束流杂质。经详细分析后确定束流杂质主要是由离子源内部一个绝缘套筒造成的。本文对离子源内部结构进行了改进:在靶阴极与阳极之间的绝缘套筒上加上内外金属屏蔽...
在北京HI-13串列加速器上使用强流溅射源引出某些离子时,总是含有不必要的束流杂质。经详细分析后确定束流杂质主要是由离子源内部一个绝缘套筒造成的。本文对离子源内部结构进行了改进:在靶阴极与阳极之间的绝缘套筒上加上内外金属屏蔽帽,从而降低了束流杂质,提高了束流的纯度和强度。
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关键词
束流杂质
绝缘套筒
金属屏蔽帽
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职称材料
题名
强流溅射源束流杂质的分析和消除
1
作者
夏清良
孟波
魏蒙存
包轶文
王晓飞
游曲波
机构
中国原子能科学研究院核物理研究所
出处
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2017年第4期753-755,共3页
文摘
在北京HI-13串列加速器上使用强流溅射源引出某些离子时,总是含有不必要的束流杂质。经详细分析后确定束流杂质主要是由离子源内部一个绝缘套筒造成的。本文对离子源内部结构进行了改进:在靶阴极与阳极之间的绝缘套筒上加上内外金属屏蔽帽,从而降低了束流杂质,提高了束流的纯度和强度。
关键词
束流杂质
绝缘套筒
金属屏蔽帽
Keywords
beam impurity
insulation bushing
metal shield
分类号
TL503 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
强流溅射源束流杂质的分析和消除
夏清良
孟波
魏蒙存
包轶文
王晓飞
游曲波
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2017
0
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