临界路径跟踪——测试产生与故障模拟的一种算法

现有的数字电路测试产生算法,如D-算法、PODEM算法和FAN算法等,几乎都是针对每个给定的故障先求出它的一个测试,然后用故障模拟方法求出该测试所能检测的全部故障。测试产生和故障模拟是分两步进行的。本文提出用临界路径跟踪法进行测试产生和故障模拟,它是从电路的初级输出开始向电路的初级输入进行所谓临界路径跟踪。测试产生和确定该测试所能检测的故障是同时进行的,把测试产生和故障模拟紧密地结合在一起。 和PODEM算法、FAN算法一样,我们限于讨论组合电路中引线s-a-0和s-a-1的单故障。文中详细叙述了临界路径跟踪的策略,保证求得的测试集能覆盖电路中全部可测故障。测试的总数最多不超过电路中每个门单独的测试数的总和。

组合电路故障模拟的一种新方法

本文提出组合电路故障模拟的一种新方法。对一个给定的输入向量t,除第一遍真值模拟是从电路的初级输入到初级输出进行计算外,故障模拟是从电路的初级输出到初级输入逐级进行表达式运算,由得到的表达式可以判断t能否检测电路中任何一条引线上的s—a—0或s—a—1单故障。本文还介绍了本算法和临界路径跟踪法相结合的一种算法,简化了临界路径跟踪法中对扇出源临界性的处理过程。

功能块级电路测试产生与故障模拟中的一些基本问题

本文讨论以功能块为单位的数字电路测试产生与故障模拟中的一些基本问题，包括功能快的描述，故障模型，故障效应的传播，扇出重汇聚，功能块划分成单元，整个电路划分成锥体，锥体中的截面等问题，其中有些概念是门级电路中类似概念在功能块级电路中的推广。

一种数字电路故障模拟方法——临界路径跟踪法的改进

本文对M.Abramovici等[1]提出的临界路径跟踪法作了改进。主要是对电路中的扇出源作了更详细的分析,提高了处理的效率,并采用统一的方法来处理,使这一算法真正成为一个完全的算法。另一方面,在进行当前一次模拟时,充分利用上一次模拟的结果,这样可以大大节省运算量,从而进一步提高了计算效率。

对实际数字电路中冗余故障的分析

系统地研究了实际数字电路中冗余故障的特性 .详细深入地分析了 ISCAS85基准电路中 10个组合电路的全部 5 5 0个冗余故障 ,找出了它们各自形成的原因并将其分成 5类 .研究发现其中只有 3个故障是最难测的 ,算法中需要大量回溯 ;其它 5 47个故障只要按照电路结构和测试本身的规律来形成测试 ,则基本上无需回溯即可 .

异步时序电路分析的一种OBDD方法

对异步时序电路的分析和使用是一个比较困难的问题 ,所以 ,异步时序电路的实际应用范围远不如同步时序电路 .通过改进 JR Burch等提出的分析方法 ,使之适用于异步时序电路 .该方法使用基于 OBDD的布尔特征函数来表示电路的转移关系 ,并通过基于 OBDD的布尔函数的运算来确定异步时序电路的稳定状态、及当输入改变时电路的下一个稳定状态 。

对数字电路扇出的影响和造成困难的分析

提出一种在 Benchmark电路中存在的隐式扇出和描述实际组合电路中扇出的一种方法 .从 D传送、赋值和冗余、难测故障等方面 ,对扇出的影响造成的困难进行了分析 ,并叙述了其影响的范围和程度 .

二进制映射神经网络的几何学习算法及其应用

提出一种一般二进制映射问题的前馈网络学习算法 .给出一种求解超平面以几何分割训练点的新方法 ,不仅相应地构造了隐层神经网络 ,而且使得只需再构造一个输出层网络便可实现训练样本所描述的映射 .该算法在学习收敛速度方面优于 BP算法和 SC算法 ,对样本数据的分布和密集程度变化适应性强 。

分布式系统中的动态测试调度

本文提出了一种在分布式环境下电路的并行测试调度算法。文中采用了动态调度的策略,最大限度地提高了测试的并行度。这种动态测试调度不同于静态调度在测试以前对各处理机分配任务,而是在测试过程中逐步形成测试方案,充分利用了处理机的空闲时间。

时序电路逻辑初始化研究

本文讨论了同步时序电路初始化问题，提出了一种基于电路存储元件逻辑定级和可控性分析的同步时序电路逻辑初始化方法。同时也给出了针对ＩＳＣＡＳ８９电路的一些实验结果。

并行测试的测试调度及其控制

本文首先从理论上比较严格的证明了测试调度问题是多项式可解的。提出了一种O(n^2)的最优测试调度策略。最后,阐述了一种测试调度的控制策略,使得多路转换器控制输入最少。

基于扇出源单故障传播的平行码临界路径跟踪故障模拟

本文提出了一种快速的组合电路故障模拟方法──基于扇出源单故障传播的平行码临界路径跟踪法．临界路径跟踪法是一种十分快速的、但近似的组合电路故障模拟方法，将其同平行码故障模拟结合起来，其效率被进一步成倍地提高．为使其成为一个完全的算法，对每个非停止线扇出源故障，我们采用了平行码单故障传播法．同时，为加快其速度，本文提出了若干加速技术，用于故障模拟的各个部分．例如，事件驱动、多级活动事件栈、测试码标记向量、扩大的停止线以及平行处理时的捕获线概念等等．本算法已用Ｃ语言在ＳＵＮ４／ＳＰＡＲＣＳＬＣ上实现，文中给出了ＩＳＣＡＳ’８５的１０个组合电路的实验结果．

一种并行测试的最优设计方法

本文采用整数线性规划，实现了并行测试的最优设计．该方法使得并行测试图（ＰＴＧ）的最大完全子图（ＭＣＳ）的顶点数最少，即ＰＴＧ的点着色数（ＶＣＮ）最少，因而使得总的测试时间最少．文中提出了一个Ｏ（ｎ２）的最优测试调度算法．实验证明该模型是有效的，正确的．

利用约束优化数据库Web视图上的查询

当前 ,许多大的 Web站点的信息和数据呈现出结构化或半结构化的特点 ,因而可经抽象 ,作为类似关系数据库或者面向对象数据库并加以处理 ,以提高操作效率 ,特别是在此基础上进行的查询操作 .但查询这些抽象的结构化或半结构化的视图需要新的技术 .由于数据存储比较分散 ,并且多数以 HTML,XML 等的形式存放 ,因而网络访问成为主要的查询代价构成要素 .为此通过利用 Web数据库的冗余来减少网络访问 .采用数据模型 Araneus的一个子集作为数据模型 ,并利用链接约束、包含约束、范围约束以及多种规则重写关系代数表达式 。

多任务下的系统实时检测

本文根据ＳＴＤ总线控制系统的要求和环境，以ＲＡＭ的故障模型为基础，提出了基于时间控制及模块的系统故障实时检测设计，重点研究了暂时故障的处理问题。由各模块检测算法构成的检测任务灵活方便，实用性强，能处理文中提出的所有故障。

一种低成本的测试码自动产生算法

为了降低超大规模集成电路（ＶＬＳＩ）测试中的测试产生和测试应用代价，本文提出了一种低成本的测试码自动产生算法──临界路径跟踪测试产生（ＣＰＴＴＧ）．本文主要从算法的搜索策略、扇出源的临界性确定及测试产生过程中的加速技术三个方面，介绍ＣＰＴＴＧ的主要思想和关键技术．文中给出了ＣＰＴＴＧ对国际通用的１０个组合电路范例的实验结果，表明了ＣＰＴＴＧ可以在较短时间内获得具有较高故障覆盖率的较小测试集．

一种功能级的可测试性测度

本文提出了一种功能级的可测试性测度FLTM(Functional Level Te-stability Measure).针对功能级的故障模型,FLTM引入了数据位可控性与数据通路状态可控性的概念.由于不同的故障效应可观度不一样,文中引入了故障效应可观度的概念.FLTM着重考虑了重汇聚扇出对电路可测性的影响,提出了一种加权的可测度计算方法.

一个机械产品协同设计系统的研究与实现

企业计算环境下协同设计的许多关键性问题 ,如分布、异构计算环境下遗产系统的集成 ,集成后遗产系统数据库之间的互访 ,设计过程中的“群体感知”等 ,目前并没有很好地得到解决 .文中通过一个中等规模和中等复杂程度的机械产品设计实例 ,研究了上述问题 ,给出了一种解决方案 。

测试生成算法

4 SOCRATES算法 SOCRATES在FAN算法的基础上提出一种全局的蕴含策略,改进的唯一敏化策略及改进的多路回退策略。这些策略有助于降低回溯次数,尽早地发现信号冲突,识别冗余故障。

测试生成算法

集成电路技术的迅速发展,测试生成变得越来越困难。往往测试代价比电路设计,生产代价还要高。扫描设计技术将时序电路的测试生成转换成组合电路来处理。组合电路的测试码生成就显得很重要了。D-算法第一次引入了多路径敏化的思想,因而是第一个完全的算法。但由于D-算法对故障校验电路处理所存在的缺陷,使得D-算法在测试码搜索过程中所存在的盲目性逐步表现得非常突出。PO-DEM算法第一次将测试生成问题归结为一个多维空间解的搜索问题。该算法采用隐枚举的方法来处理测试生成,并第一次引入了回退技术,使得测试码生成效率大大提高。FAN算法对PODEM算法作较大的改进。该算法引入了唯一敏化,唯一蕴含及多路回退等技术将测试码生成效率大大提高。不同于PODEM算法的是,FAN算法搜索测试码的回溯不是针对原始输入,而是对头线和扇出。SOCR-ATES算法在FAN算法的基础上,引入了全局蕴含的思想及一系列改进的唯一敏化和改进的多路回退策略。SOCRATES进而将全局蕴含及唯一敏化扩展到动态的策略,进一步提高了测试码生成效率。EST算法第一次提出了测试码搜索状态的概念,并采用E-前沿来描述测试码搜索的不同状态。通过引入状态等价的概念,大大缩小了测试码搜索空间。DST算法将测试码搜索空间的状态等价概念扩展到状态控制的概念,在EST算法的基础上,进一步大大缩小了搜索空间。