电子元器件银离子迁移评价方法的探究

随着电子设备变得更小、更轻、更先进,使用环境更加恶劣,发生银离子迁移的几率也比以往更大。本文在详细介绍银离子迁移现象、机理的同时,全面分析了影响银离子迁移的各类因素,得出评价银离子迁移切实可行的加速试验方法和时间公式,有效地缩短了评价时间。根据经验总结了故障解析的流程以及银离子迁移的发生条件,提出了在银离子迁移过程的每一个步骤中采取措施的策略,防止迁移的再发生。

基于NB-IoT技术的智能家电开发

基于蜂窝通信3G/4G演进的物联网通信技术NB-IoT工作于专用授权频段,主要用于低吞吐量、海量连接场景,未来将承接大量的物联网接入业务。因此,NB-IoT必将作为白色家电智能化转型升级的主要通信技术之一。利用其广域覆盖的特点,通过配备电池供电,可在仓库的出入库管理、售前物流和用户区域分布统计等环节实现家电位置跟踪,开展更高效便捷的供应链管理;利用NB-IoT接入方便,极高的网络接入率,可最大程度利用用户的家电使用数据和故障数据,实现针对性的分区域的定制化开发和营销等活动。

改善睡眠质量的智能家居系统的开发

睡眠不足引起的身体疲劳,会降低注意力和工作效率,降低社会生产率,不仅如此,还大大提高了人为因素造成错误和事故的危险概率。而且睡眠不足的状态长期持续,还会使疲劳恢复会变得很困难。为了防止睡眠不足造成的疲劳积累,确保每天需要的睡眠时间是很重要的。更好的睡眠,不仅仅要有舒适的寝具和放松的身体状态,就寝环境也是极为重要的。本系统是通过空调、照明、音响等智能家居,调整就寝前、就寝中、起床前的温度、湿度、光和声音,帮助用户实现快速入眠、舒适睡眠,并使用户能够精神饱满地起床。

浅谈智能家电的产品安全的风险管理

目前,几乎所有家电企业都已推出智能家电,通过连接网络,用户可随时随地利用移动终端,使用智能家电提供的各类服务。但是家电的安全问题一直存在,随着智能化技术的引入,家电在接入网络之后,除了"传统"的电器安全(Safety)之外,又多了一个产品安全(Security)问题,家电厂商有义务保护因为不具备专业技术水平而在网络上成为弱者的智能家电顾客。因此,为了预防产品出现可能存在威胁的安全漏洞,需要实施维持产品机密性(隐私)、完整性(不被修改)、可用性(能够动作)的相关活动。

家电产品基板焊点抗开裂评价的浅析

家电产品基板组件在使用过程中由于反复温度变化造成热疲劳损坏,致使元器件的焊点出现裂纹,长此以往,将出现电气的接触不良,甚至造成事故。焊点抗开裂试验以及断面解析相结合的评价方法实现了对焊点寿命的评价,能够在产品设计阶段就发现焊锡裂纹的不良从而加以改善,降低了家电产品在安全耐用年限内因为焊锡裂纹引起的发烟发火事故的风险。同时,提出了加速试验方法,大大缩短了试验时间,适合企业的实际应用。