毫米波辐射计定标系统

研制了的小口径天线毫米波辐射计自然变温智能定标系统 ,该系统实现了所有数据的自动采集与分析 .利用该系统对 8mm狄克式辐射计进行了定标实验 ,得到了该辐射计的主要性能和定标方程 .对其进行的精度分析表明该定标系统的天线温度不确定度为 1.0 5 82K .

地基毫米波辐射图像模拟生成方法的研究

分析了照相机和地基毫米波辐射计的成像机理 ,讨论了光学图像的分割和识别方法 ,论述了地物表面温度亮温、视温、天线温度和天空温度之间的关系 ,并在此基础上提出了一种用可见光图像模拟生成毫米波辐射图像的方法 .该方法用于制作地图匹配制导中的基准地图 .图像模拟的结果表明 。

手性材料电磁参量测量方法的理论研究

本文从麦克斯韦方程组、边界条件和手性材料的物质方程出发，导出了单层平板形手性材料在有、无金属衬底情况下的电磁波的反射、透射关系，进而提出了可同时测量手性材料的复介电常数、复磁导率和复手性参量的一种新方法。

同步变长码

给出了一种新的变长码———同步变长码(SVLC),它具有无限可数的码表,且码表中每个码字都以同步字结尾.研究发现:其码长分布与同步字的移位对称数密切相关,具有连续和非2的整数次幂等特点;其平均码长恰为其移位对称数的2倍;其抗误码扩散能力也与移位对称数有关;某些SVLC的抗误码扩散能力比传统变长码强.

复杂场景微波辐射图像的模拟

模拟生成微波辐射图像是为了用其作地形匹配制导中的基准图。文中分析了光学图像和微波辐射图像之间的几何关系,讨论了光学图像的分割、识别及表面方向获取的方法,论述了地物表面温度、亮度温度、视在温度、天线温度和天空温度之间的关系,并在此基础上提出了一种模拟生成复杂场景微波辐射图像的方法。仿真结果表明,方法完全可行。

融合学习算法的单帧图像超分辨率复原

为从高度降质的单帧图像中重建出高分辨率图像,提出了一个结合自适应正则化与学习算法的超分辨率复原方法。该方法基于图像的局部特征,实现了正则化方法动态自适应控制过程,优化了学习算法中的训练集、预测原则和搜索过程,以降低基准图相关性要求、提高搜索效率。仿真实验分步论证了该方法的有效性,以及对复原效果的提升。

金属立体目标的广义和狭义等效辐射截面系数

导出了金属立体目标天线温度对比度的一般表达式 .类比雷达的散射截面 ,提出了金属立体目标的狭义和广义的等效辐射截面和等效辐射截面系数的概念 ,为验证狭义和广义等效辐射截面系数的可行性 ,计算了金属半球在混凝土背景上的天线温度对比度和等效辐射截面系数 ,并对误差进行了分析 .计算的结果证明用狭义和广义等效辐射截面系数来计算立体金属目标的天线温度对比度是可行的 .

微波辐射特性研究概览

微波辐射特性的研究为被动微波遥感和制导等提供基础的理论、方法、实验数据和结果。系统地阐述了微波辐射特性研究的两种方法 ,重点讨论了亮度温度的各种反演方法 。

变长码的抗误码扩散能力分析

给出了一种基于离散无记忆信源模型的分析变长码抗误码扩散能力.该方法通过分析序列中某一时刻某个码字出现的概率,以及该码字发生错误后正好变成与该码字同码长的另一码字的概率,得到该时刻不发生误码扩散的概率.而整个序列不发生误码的概率为该概率的序列长次幂.模拟计算结果显示,该方法可在不增加平均码长和码方差的情况下,选择出抗误码扩散能力最好的码组.

超综合孔径辐射计系统研究

分析了已有的超综合孔径分辨率表达式的不足之处,提出了更准确的空间分辨率表达式。首先将最小冗余线性阵列应用于超综合孔径天线系统,增加了超综合孔径天线系统的小基线部分,在空间频率覆盖方面表现为扩大了系统对低频部分的覆盖,从而达到抑制旁瓣,改善成像效果的目的。最后,通过仿真实验证明了改进的超综合孔径系统的性能相比于原始超综合孔径系统有很大的提高,主要表现在:一是天线阵列方面,阵列因子的旁瓣更低,主瓣更窄;二是成像方面,点源成像效果更好。

同步变长码码字和码序号的互换算法

基于同步变长码(SVLC)的构造原理,先根据码长的不同将码表分成不同的码组,再根据前n位的不同将码组细分为不同的子码组,然后给出了一种计算SVLC子码组的码长分布的迭代算法。基于码表中码字首先按码长从小到大排列,码长相同时按码字对应的二进制值从小到大排列的准则,并利用码组和子码组的码长分布,给出了一种SVLC的码字和序号互换的算法。

准可逆同步变长码

使码字能双向解码和构造同步字是当前提高变长码(VLC)自身容错能力的最主要两种方法,其中又分别以可逆变长码(RVLC)和同步变长码(SVLC)为主要代表。在SVLC中,找到了一类结合了这两种方法的VLC,它是移位对称数为2的整数次幂的SVLC。如果在用该码编码后的序列前中填加一同步字,则新序列可实现双向解码,故我们称之为准可逆同步变长码(QRSVLC)。QRSVLC的编码效率高于对称的RVLC,与非对称的RVLC相差无几。它还具有每个码字都包含同步字等优点。

同步变长码的抗误码扩散能力分析

基于离散无记忆信源模型,分析了变长码的抗误码扩散概率。利用在理想条件下的概率分布,计算了同步变长码的抗误码扩散概率。分析发现同步变长码的抗误码扩散概率与其码距分布有关。给出了一种计算同步变长码码距分布的迭代算法。数值计算结果显示同步变长码的抗误码扩散概率随其移位对称数的增加而减少。

一种区域边界显示的快速算法

由于在交互式的图像处理中,影响系统性能的主要是时间而非存储空间。虽然作为描述区域边界的常用方法——链码,能有效降低存储空间,本文仍然用最简单和最直接的方法——横向和纵向线段组来描述图像区域边界。并在分析横向和纵向线段组的规律性的基础上,给出了一种由图像区域同时生成其横向和纵向线段组的快速算法。

低信噪比的接收通道阵列幅相误差校正方法

针对低信噪比情况,建立了新的接收阵列误差模型,提出了一种改进单辅助源通道阵列幅相误差校正算法。该算法利用自相关矩阵对角线部分求解通道幅度误差,用最小二乘法对上三角部分求解通道相位误差。仿真结果表明:在低信噪比时,改进校正算法性能明显优于传统校正算法,在高信噪比时,2种算法残差均非常小。实验结果表明:利用改进的校正算法对综合孔径辐射计进行校正后所得的图像边界清晰、干扰较少,与实际亮温对应较好,明显优于采用传统校正算法进行校正后所得的图像。

基于差集的综合孔径圆环天线阵稀疏优化方法

稀疏天线阵列设计是综合孔径微波辐射计的一个重要研究内容。圆环阵因其可实现(u,v)平面基线矢量零冗余、结构简单以及共形、波束旋转对称等特点而备受关注。针对均匀圆环阵(UCA)基线长度(基线矢量的模)冗余量大的问题,提出了两种稀疏优化方法:一种是基于受限差集的半圆环阵稀疏方法;一种是基于循环差集的全圆环阵稀疏方法。这两种方法均可大大减少阵元数,节约硬件成本;且均可解析地求出稀疏阵元位置,运算量极小,适于任意大阵元数的圆环阵稀疏优化。通过阵列旋转和分时测量,这两种圆环稀疏阵可获得与UCA相同的空间频率采样。

一种获取大阵元数低冗余度线阵排列的方法

寻找大阵元数的低冗余度线阵(LRLA)排列,是一维综合孔径微波辐射计天线阵列设计的一个难点.本文在总结了低冗余度线阵排列的一般结构规律的基础上,提出了一种排列结构约束搜索的方法,能以较短的计算时间获得较优的大阵元数LRLA排列;作为该方法的应用实例,导出了多种LRLA排列的解析解,它们可以迅速地给出任意阵元数对应的多种LRLA排列.本文提出的方法及在此基础上得到的LRLA排列,对综合孔径辐射计的阵列设计具有参考价值.

基于二维天线增益函数的面目标视在温度反演

根据微波辐射测量的基本原理导出了二维天线增益函数的表达式,指出了基于一维天线增益函数的傅立叶变换递推反演面目标视在温度方法的不足,提出了一种基于二维天线增益函数的迭代反演法,并用该方法反演了水面视在温度。结果显示这种反演是必要的,方法是准确的。

基于先验信息的综合孔径辐射计误差校正方法

误差会严重影响综合孔径微波辐射计的成像性能,需要进行校正。但是,随着系统工作频率的提高和阵列尺寸的扩大,校正难度越来越大。文中提出一种基于先验信息的综合孔径微波辐射计误差校正方法。该校正方法包括一个基于先验信息的校正矩阵以及一种基于先验信息的CLEAN算法。首先,该校正方法将含有误差的系统响应作为先验信息构造校正矩阵,并校正得到初步的反演图像;然后,利用上述先验信息估计系统的阵列因子并代入基于先验信息的CLEAN算法,校正图像中剩余的误差。仿真和实验结果表明该校正方法能有效提高综合孔径微波辐射计的成像质量。该校正方法可以在图像反演过程中全面校正综合孔径微波辐射计的误差,降低对校正系统的硬件性能要求,适用于大阵列毫米波综合孔径微波辐射计的校正误差。

一种新的综合孔径辐射计误差校正方法

综合孔径辐射计误差会严重影响系统的性能。文中提出了一种新的接收机误差校正方法。该方法包括一个校正矩阵和一种自动校正通道频率响应变化的方法。校正矩阵通过测量系统天线范围内的冲击响应得到。除了基线消条纹误差,该校正矩阵可以在图像重建过程中校正其他的接收机误差。自动校正方法则可以校正通道幅度和相位的时变误差。该方法能简化校正的步骤,减小了校正系统引入的额外误差。仿真结果表明,该校正方法能很好地改善综合孔径辐射计的成像质量。