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采用背景系数法光谱测定地化样品中的As、Sb——流动注射—氢化物发生—电感耦合等离子体原子发射光谱测定法
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作者 吴蓉 高汉山 黄剑惠 《矿产与地质》 1991年第6期478-482,共5页
流动流射(FIA)—氢化物发生(HC)—等离子体发射光谱(ICP/AES)测定地质物料中的A_s和Sb的方法,是以金通道作为背景通道,用FIA-HG-ICP/AES背景系数法来测定.主要讨论了选用金通道作为背景通道时与各实验条件之间的关系;从实验中求出背景... 流动流射(FIA)—氢化物发生(HC)—等离子体发射光谱(ICP/AES)测定地质物料中的A_s和Sb的方法,是以金通道作为背景通道,用FIA-HG-ICP/AES背景系数法来测定.主要讨论了选用金通道作为背景通道时与各实验条件之间的关系;从实验中求出背景系数以及将背景系数用于各类矿样分析时结果的可靠性. 展开更多
关键词 流动注射法 地质样品 AS SB 测定
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