液晶面板晕开缺陷的电子限度样本设计与应用

晕开缺陷(Particle Gap)是液晶面板常见缺陷之一,在工业生产中需要准确评价缺陷的严重等级。传统评价方法存在准确率低、误差大的问题。本文基于Particle Gap缺陷的形态与颜色特征,利用Photo Shop软件设计了Particle Gap电子限度样本,提高了缺陷等级评价的准确率。首先根据形态将缺陷分为4类,通过色彩分析仪分析发现圆形有核和圆形无核两类缺陷的颜色呈各向同性,从中心向边缘分为均匀渐变和非均匀渐变两类;然后建立了Particle Gap电子限度样本模型,经过对比实验找出了不同等级之间精准的电子限度样本;最后分析得出Particle Gap色域范围为色相H∈[30°,45°],饱和度S∈[2%,56%],明度B∈[15%,66%]。随着缺陷由轻变重,色相总体呈减小趋势,饱和度逐渐增大,明度先升高后降低,为制作与修订电子限度样本提供了参考。该限度样本应用于H公司面板检测工序后,Particle Gap等级准确率提高7.1%以上,因错检造成的产品和材料损失显著降低,在缺陷检测领域具有重大应用价值。

TPM理论在液晶面板制造中设备管理的应用研究

本文主要介绍了合肥京东方公司运用TPM设备管理思想,在生产部门建立了一支6~7人专职化的自主保全团队,制定了标准化的设备维保流程,并以TPM理论中零灾害、零不良、零故障和零损失的“四个零目标”为目标,构建全员参与、预防为主的设备管理机制。TPM团队通过彻底性的设备清洁、周期性的维护保养和设备异常点修复与管控等措施,使得设备的平均宕机率(FR)和平均维护时间(MTTR)分别降低了22.9%和27.9%,设备稳定性得到了明显的提高;另外,团队通过培训教育、一点课程(OPL)和可视化管理等活动带动全员参与,显著地提高了员工TPM意识和设备维保技能。由此可见,TPM理论在液晶面板制造行业中对员工素质和设备体质的改善具有重要的推进作用。

AOI设备检验原理与检测技术应用及发展前景分析

自上世纪以来,各国的电子产业都开始蓬勃发展,进入发展的新纪元,电子工业中由于涉及各种功能不一的元器件,各类元器件纷繁复杂。同时涉及的工艺以及制作流程都越来越复杂,与此同时,元器件的精密度也在不断提高,出现了现有检测设备无法满足要求的情况,为了提高工艺流程的良品率,自动光学检测设备开始应用到产品的制作工序中,给电子工业的生产带来了新的助力,随着自动光学检测设备的不断发展,对AOI设备也有了新的要求,AOI设备正朝着分辨力高、检测速度快、扫描时间短、拍摄图片清晰、操作软件简易化、设计的模块化和系统处理程序化等方向发展。

大尺寸液晶面板获取精准缺陷坐标的研究与应用

为了解决传统小尺寸液晶面板缺陷寻址方法应用在高分辨率、大尺寸液晶面板上存在的效率低、精度差等问题,建立了全自动缺陷精确寻址系统,并对该系统硬件与软件的架构及实施方式、缺陷的定址逻辑进行研究。首先,在点灯检测设备的基础上增加可移动光学相机机构和相应的软件架构,构建成寻址中控系统;然后,通过相机拍摄液晶面板自身显示的空心十字光标与缺陷重合前后的图片,采用对比的方法精确定位缺陷;最后,通过液晶面板驱动装置输出缺陷坐标。对5种缺陷进行测试,结果表明,该系统稳定易用,具有全自动、识别速度快和100%精确寻址等优点。该系统应用于H公司缺陷坐标寻址工序后,缺陷坐标准确性提升30%以上,缺陷维修收益显著提升,在大尺寸液晶面板缺陷维修坐标寻址领域具有重大应用价值。

基于摩擦工艺的漏光不良改善

本文为解决特殊漏光不良(玻璃基板弯折15°的情况下检测),从摩擦布密度、弹性和摩擦方式三方面开展研究。经过理论分析和通过大量的实验论证。得出增大摩擦布密度和弹性,采取对向的摩擦方式,均可有效改善特殊漏光不良。

面板生产中节拍时间管理系统的设计与应用

本文针对显示面板生产线中节拍时间(Tact Time,TT)数据收集和分析管理困难的问题,通过引入一种创新的TT计算逻辑和数据统计方法,设计了一种基于MES数据库的TT管理系统。该系统可实时获取丰富的生产数据,能快速识别生产瓶颈并提供改善参考,应用在H公司后生产线TT平均降低10.3%,平衡率平均提升36.3%,生产线管理效率得到了显著提升。该系统稳定可靠,对制造业管理生产线TT、提升产能、提高平衡率以及节约人力成本等方面具有广泛的应用价值。

浅谈现场安全管理提升的方法

在液晶面板制造行业或其他制造领域,现场安全管理存在诸多的问题点,例如现场作业未进行交底、安全标识缺失、危险作业缺少监护人、安全隐患不清晰等一系列的安全管理缺陷或漏洞,因为现场管理存在不完善,导致了在作业过程中因为麻痹或侥幸心理违章或违反操作规程作业从而导致安全事故的发生。本文主要阐述以合肥京东方显示技术有限公司液晶面板制造部门的现场作业管理为基础,针对如何提升现场安全管理以及提升现场安全管理需要做什么以及实施的方法,并结合成盒工厂的实际管理情况进行论证说明。例如从危险源辨识、安全标识统一化、安全无纸化等管理方案进行现场的安全管理提升,从而减少或避免安全事故的发生,为现场安全作业环境营造一个较好的氛围。

液晶面板图片判级方法的研究与应用

本文在AOI(Automatic Optic Inspection)网络上增加服务器和判级终端,构建了图片判级系统,该系统可由人员或Artificial Intelligence(AI)在判级终端分析缺陷图片,对AOI判NOT GOOD的成盒后液晶面板进行等级复核,从而取代昂贵的点灯检测设备,节省费用,同时简化缺陷维修流程。经过6种高发缺陷的测试,结果表明此系统稳定易用,具有构建成本低、兼容性强和干扰缺陷识别准确性高等优点,在液晶面板的缺陷检测领域具有重大应用价值。

TFT-LCD面板DCS不良定位及维修改善研究

本文根据此不良的特点,把Array工序获取的不良坐标与Cell工序提供的不良坐标匹配,将不良坐标缩小至可维修的范围内,改善了DCS不良难定位的状况。通过不良定位方法改善之后的量产验证,DCS维修提级率从8%提升到约30%,同时该方法也为其他短路线不良维修提供了思路,且具备成本低、易推广等特点,在一定程度上解决了DCS不良维修的难题。