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基于机器学习的高速公路大型货车追尾风险预测
1
作者
温惠英
黄坤火
赵胜
《中国安全科学学报》
CAS
CSCD
北大核心
2023年第9期173-180,共8页
针对高速公路大型货车追尾事故频发的问题,评估高速公路大型货车追尾风险,并分析交通流特性对大型货车追尾风险的影响,以降低追尾事故的发生率。根据德国HighD开源数据集,以不同冲突风险等级的碰撞时间(TTC)阈值作为大型货车冲突风险的...
针对高速公路大型货车追尾事故频发的问题,评估高速公路大型货车追尾风险,并分析交通流特性对大型货车追尾风险的影响,以降低追尾事故的发生率。根据德国HighD开源数据集,以不同冲突风险等级的碰撞时间(TTC)阈值作为大型货车冲突风险的划分标准,提取大型货车的车辆轨迹与交通特征参数等数据,基于随机森林(RF)、支持向量机(SVM)和人工神经网络(ANN)等3种机器学习模型分别建立高速公路大型货车追尾风险实时预测模型;以混淆矩阵、受试者工作特征曲线的曲线下面积(AUC)和洛伦兹(KS)检验等评价指标,对比分析各模型的整体预测能力,并选取预测精度最好的模型分析各个特征参数对追尾风险的影响程度。研究结果表明:RF模型的预测准确率达75%,相对SVM模型高出8%,相对ANN模型高出10%,且RF模型的预测精确度、召回率、AUC值和KS值均优于SVM模型和ANN模型;最小车头间距、车速标准差和加速度标准差3个参数对大型货车追尾风险影响程度最高。
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关键词
机器学习
高速公路
大型货车
追尾风险
预测模型
碰撞时间(TTC)
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职称材料
聚焦离子束(Focused Ion Beam)原理与其在半导体工业之应用
被引量:
2
2
作者
余维斌
黄坤火
柯大华
《电子工业专用设备》
2003年第5期70-72,共3页
聚焦离子束被广泛应用于芯片电路修改、研磨、沉积和二次电子/离子成像。FIB对于新原型电路设计的修改以及离子间交互作用的基础研究具有独特之性能。使用极细的聚焦离子束,FIB技术可以进行比从前更加精确的产品失效分析。操作者可以快...
聚焦离子束被广泛应用于芯片电路修改、研磨、沉积和二次电子/离子成像。FIB对于新原型电路设计的修改以及离子间交互作用的基础研究具有独特之性能。使用极细的聚焦离子束,FIB技术可以进行比从前更加精确的产品失效分析。操作者可以快速地、选择性地去除绝缘层或金属层,以便进行集成电路下层信号的点针探测或材质分析。集成电路的断面切割还可以达到亚微米的精度。
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关键词
聚焦离子束
植入
点针
材质分析
断面
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职称材料
题名
基于机器学习的高速公路大型货车追尾风险预测
1
作者
温惠英
黄坤火
赵胜
机构
华南理工大学土木与交通学院
出处
《中国安全科学学报》
CAS
CSCD
北大核心
2023年第9期173-180,共8页
基金
国家自然科学基金资助(52172345)。
文摘
针对高速公路大型货车追尾事故频发的问题,评估高速公路大型货车追尾风险,并分析交通流特性对大型货车追尾风险的影响,以降低追尾事故的发生率。根据德国HighD开源数据集,以不同冲突风险等级的碰撞时间(TTC)阈值作为大型货车冲突风险的划分标准,提取大型货车的车辆轨迹与交通特征参数等数据,基于随机森林(RF)、支持向量机(SVM)和人工神经网络(ANN)等3种机器学习模型分别建立高速公路大型货车追尾风险实时预测模型;以混淆矩阵、受试者工作特征曲线的曲线下面积(AUC)和洛伦兹(KS)检验等评价指标,对比分析各模型的整体预测能力,并选取预测精度最好的模型分析各个特征参数对追尾风险的影响程度。研究结果表明:RF模型的预测准确率达75%,相对SVM模型高出8%,相对ANN模型高出10%,且RF模型的预测精确度、召回率、AUC值和KS值均优于SVM模型和ANN模型;最小车头间距、车速标准差和加速度标准差3个参数对大型货车追尾风险影响程度最高。
关键词
机器学习
高速公路
大型货车
追尾风险
预测模型
碰撞时间(TTC)
Keywords
machine learning
freeway
truck
risk of rear-end collision
prediction model
time-to-collision(TTC)
分类号
X951 [环境科学与工程—安全科学]
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职称材料
题名
聚焦离子束(Focused Ion Beam)原理与其在半导体工业之应用
被引量:
2
2
作者
余维斌
黄坤火
柯大华
机构
宜硕科技(上海)有限公司
IECQ认证实验室
出处
《电子工业专用设备》
2003年第5期70-72,共3页
文摘
聚焦离子束被广泛应用于芯片电路修改、研磨、沉积和二次电子/离子成像。FIB对于新原型电路设计的修改以及离子间交互作用的基础研究具有独特之性能。使用极细的聚焦离子束,FIB技术可以进行比从前更加精确的产品失效分析。操作者可以快速地、选择性地去除绝缘层或金属层,以便进行集成电路下层信号的点针探测或材质分析。集成电路的断面切割还可以达到亚微米的精度。
关键词
聚焦离子束
植入
点针
材质分析
断面
Keywords
Focused ion beams
Implantation
Probing
Material analysis
Cross-sections
分类号
TN606 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于机器学习的高速公路大型货车追尾风险预测
温惠英
黄坤火
赵胜
《中国安全科学学报》
CAS
CSCD
北大核心
2023
0
下载PDF
职称材料
2
聚焦离子束(Focused Ion Beam)原理与其在半导体工业之应用
余维斌
黄坤火
柯大华
《电子工业专用设备》
2003
2
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职称材料
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