期刊文献+
共找到5篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
混晶GaAs_(1-x)P_x禁带中央附近能级的研究
1
作者 黄景昭 周必忠 +1 位作者 陈世帛 林东海 《厦门大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 1990年第2期152-155,共4页
用双光源光电容法研究了混晶 GaAs_(1-x)P_x(x=0.65和0.85)中禁带中央附近深中心的特性,发现所测 x=0.65和0.85的GaAs_(1-x)P_x样品中均存在一个呈空穴陷阱的深中心,其光阀值能量分别为 0.95 eV和 0.97 eV,光电容瞬态谱具有非单指数性;... 用双光源光电容法研究了混晶 GaAs_(1-x)P_x(x=0.65和0.85)中禁带中央附近深中心的特性,发现所测 x=0.65和0.85的GaAs_(1-x)P_x样品中均存在一个呈空穴陷阱的深中心,其光阀值能量分别为 0.95 eV和 0.97 eV,光电容瞬态谱具有非单指数性;且在同一波长的光激发下,非单指数性随激发光强度的增大而增强。对这一深能级中心的结构及其激发过程进行了分析和讨论,提出一种多能级耦合的缺陷中心模型并用二步激发过程解释了实验结果。 展开更多
关键词 镓砷磷 禁带中央能级 多能级耦合
下载PDF
GaAs_(0.6)P_(0.4):Te深中心的电声耦合与晶格弛豫
2
作者 林东海 周必忠 +1 位作者 黄景昭 陈世帛 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1990年第3期205-211,共7页
用DLTS技术结合光电容定态谱、瞬态谱、OITS谱研究了GaAs_(0.6)P_(0.4):Te深中心的光电性质和电声耦合作用,在GaAs_(0.6)P_(0.4):Te中检测到两种深中心(A和B中心),表观热激活能分别为0.20和0.40eV,光离化阀值分别为0.60和1.31eV。详细... 用DLTS技术结合光电容定态谱、瞬态谱、OITS谱研究了GaAs_(0.6)P_(0.4):Te深中心的光电性质和电声耦合作用,在GaAs_(0.6)P_(0.4):Te中检测到两种深中心(A和B中心),表观热激活能分别为0.20和0.40eV,光离化阀值分别为0.60和1.31eV。详细研究了B中心的特性,测量了光离化截面谱的温度关系,发现有明显的声于展宽现象和晶格弛豫效应,并在低温(90K)观察到B中心的持续光电导效应。描绘出位形坐标图,说明了实验结果,较好地描述了B中心的特性,确认B中心属于DX中心。 展开更多
关键词 GaAs1-xPx TE 深中心 电声耦合
下载PDF
表面光电压法测定Al_xGa_(1-x)As的组分和少子扩散长度
3
作者 黄景昭 沈qi华 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1990年第2期200-204,共5页
本文通过测量n-Al_xGa_(1-x)As/n-GaAs材料的表面光电压并推导了有关的计算公式,判定其光跃迁类型,从而计算出它们的禁带宽度,确定了Al的组分x;计算出它们的少子扩散长度.测量和计算的结果与SEM方法的测量结果基本一致.
关键词 ALGAAS 组分 少子扩散 测量 光电压
下载PDF
混晶GaAs_(1-x)P_x(Te)深中心的电声耦合和光电特性
4
作者 周必忠 林东海 +1 位作者 黄景昭 陈世帛 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第17期1294-1297,共4页
一、引言 近年来,Ⅲ—Ⅴ族化合物混晶半导体中施主杂质(如Al_xGa_(1-x)As中Ge、Si、Sn和GaAs_(1-x)P_x中S、Se、Te等)形成的深中心(DX中心)的某些奇特行为引起人们广泛关注。虽然这些材料的基质和杂质的类型不同,但深中心的特性相似,例... 一、引言 近年来,Ⅲ—Ⅴ族化合物混晶半导体中施主杂质(如Al_xGa_(1-x)As中Ge、Si、Sn和GaAs_(1-x)P_x中S、Se、Te等)形成的深中心(DX中心)的某些奇特行为引起人们广泛关注。虽然这些材料的基质和杂质的类型不同,但深中心的特性相似,例如它们在禁带中引入一个浅能级和一个或几个深能级,深能级的浓度很大(可接近掺杂施主浓度); 展开更多
关键词 混晶半导体 GaAsP(Te) 电声耦合
原文传递
ELECTRON-PHONON COUPLING AND OPTICALELECTRICAL PROPERTIES OF DEEP CENTERS IN GaAs_(1-x)P_x(Te)
5
作者 周必忠 林东海 +1 位作者 黄景昭 陈世帛 《Chinese Science Bulletin》 SCIE EI CAS 1992年第12期988-992,共5页
Ⅰ. INTRODUCTIONIn recent years, some strange behaviors of donor-related deep centers (DX center) in semiconductors of Ⅲ-Ⅴ compound mixcrystals such as Ge, Si or Sn in Al<sub>x</sub>Ga<sub>1-x<... Ⅰ. INTRODUCTIONIn recent years, some strange behaviors of donor-related deep centers (DX center) in semiconductors of Ⅲ-Ⅴ compound mixcrystals such as Ge, Si or Sn in Al<sub>x</sub>Ga<sub>1-x</sub> As and S, Se or Te in GaAs<sub>1-x</sub>P<sub>x</sub>, have attracted much interest. Although the types of basic matters and impurities are different, some properties of the deep centers are almost the same. For example, they introduce one shallow energy level and one or a few deep energy levels; the con- 展开更多
关键词 GaAs1-xPx(Te) deep centers ELECTRON-PHONON coupling
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部