多晶材料晶胞参数的X射线线对法最小二乘方程稳定性判别解法

晶胞参数是多晶材料晶体结构的重要参数。测定两条衍射线之间的衍射角差的线对法在实验技术上比较简便，系统误差小，可得到较精确的结果。但线对法求解晶胞参数时，最小二乘方程的某些系数组合可使误差严重积累。这些病态方程组解出的晶胞参数误差很大。本研究提出一种用逆矩阵范数数值对线对法最小二乘方程组的稳定性进行判别，选择常态方程而求解晶胞参数的方法。

氯镁水泥硬化体的显微结构及结构强度

使用 Philips SEM 505型扫描电子显微镜观察了氯镁水泥硬化体中水化产物的形态及不同活性 MgO配制的氯镁水泥水化产物的生长,研究了 MgO 的活性及不同水灰比对氯镁水泥浆体硬化过程中结构强度发展的影响。结果表明,硬化体中水化产物至少有三种不同的存在形态;MgO 的活性影响水化产物的发育及结晶结构网的形成;在氯镁水泥浆体结构发展过程中,对于过饱和度较高的液相,提高水灰比会引起结构强度的下降;当硬化体中存在结晶应力时,适当提高水灰比对结构强度的发展有利。

超低膨胀陶瓷K_（2x）Ba_（1－x）Zr_4（PO_4）_6系统的X射线衍射

用高温Ｘ射线衍射方法对磷酸锆钡钾系统陶瓷材料的各向异性热膨胀作了研究．对七个组份试样的７７套高温Ｘ射线衍射图作了仔细的指标化和精密点阵常数测定．点阵常数随温度作非线性变化·对Ｋ_２ｘＢａ_１－ｘＺｒ_４（ＰＯ_４）_６的不同组份不同温度（３００～１３００Ｋ）的热膨胀系数。α_ａ、α_ｃ、 作了测定·该系统零膨胀陶瓷的组份为Ｋ_１．１６Ｂａ_０．４２Ｚｒ_４（ＰＯ_４）_６（ｘ＝０．５８）

X射线小角散射测定粒度分布的一种数据处理解析程序

本文提出了一种确定材料中微不均匀区大小分布 X 射线小角散射数据处理的解析方法。用 n 个分立的粒度分布解对应的散射强度叠加来逼近实验强度。以尝试法修正结果使误差达到最小。用铁红釉试样作为实例,对液相分离球滴粒度分布作了测定,结果表明该方法简便实用。

求解X射线定量相分析最小二乘方程组的抛弃平均法

X射线定量相分析的无标样法等一系列新方法都要求解联立方程组。经常出现的病态方程组在求解过程中误差的传递和叠加会使解得的结果误差很大,甚至得到不合理的负解。本文提出一种利用各种可能组合的最小二乘法方程组求得的解,采用抛弃平均法处理求得较精确可靠的物相定量结果的新方法。实际分析表明,该新方法简便实用,可得到理想的结果。

密堆六方纳米ZnO的X射线衍射表征与研究

X射线衍射(XRD)实验发现密堆六方纳米ZnO的hkO、h-k=3n的衍射线,仅存在微晶宽化,而h-k=3n±1的衍射线,无l=偶数、l=奇数的层错选择宽化效应.为了表征这种纳米ZnO的晶粒大小和层错几率,提出了分解纳米ZnO微晶-层错二重宽化效应的最小二乘法.计算结果表明:密堆六方纳米ZnO的晶粒大小和层错几率与制备方法、原料配比等有关.

铁氧化物纳米晶自组装空心微球的制备、表征及其应用

铁氧化物纳米材料和纳米结构空心微球分别代表了材料研究中组分和结构的研究热点.而由铁氧化物纳米晶自组装形成的空心微球的研究则是二者相结合,具有重要的科学意义和良好的应用前景.虽然已发展了多种方法制备各种单质及化合物的空心微球,但铁氧化物纳米晶自组装空心微球的制备方法报道较少.本文简要介绍了近几年发展起来的多种铁氧化物纳米晶自组装空心微球的一些制备方法,利用上述方法,制备出了多种不同组成单元、不同尺寸、不同空心程度的铁氧化物纳米晶自组装空心微球,对所制备的铁氧化物纳米晶自组装空心微球进行了表征,并初步介绍了所制备的铁氧化物纳米晶自组装空心微球在药物缓释和环境领域中的应用.

TREOR多晶X射线衍射图指标化程序的适用性

多晶Ｘ射线衍射图指标化的ＴＲＥＯＲ程序已被普遍采用，特别是在硅酸盐矿物等材料的晶体结构研究工作中应用很多。然而，实际上它存在着一定的缺陷，有可能得出错误的结果。本文对这一程序作了详细的检验，发现即使在理想条件下它都不适用于低对称晶系的指标化。在对程序作改进以后。

同步辐射的基本知识 第六讲同步辐射中的光刻、微加工和其他技术及其应用

传统的集成电路（IC）和超大规模硅集成电路（VLSIC）的制作是基于微电子电路版图设计和芯片的微加工工艺。微加工工艺包括掩模制作、薄膜工艺、涂胶、曝光、刻蚀、外延以及杂质扩散等。典型的双极型集成电路工艺中共经过六次（阴埋、隔离、基极、发射极、表面SiO_2绝缘层和铝线）光刻，每次的掩模板都不同。

同步辐射的基本知识 第五讲 同步辐射中的成像术及其应用(二)

4．3衍衬成像术的应用 4．3．1缺陷应变矢量的测定 缺陷周围的应变场总是各向异性的，e^-i2π·R是因缺陷引人的附加相位因子。当衍射矢量与缺陷应变场的最大应变矢量平行时，衍射衬度最大，垂直时无衬度或消象。因此，可以通过改变衍射矢量的方法拍摄一系列衍射面的貌相图，

同步辐射的基本知识 第五讲 同步辐射中的成像术及其应用(三)

5基于相位衬度的成像术及其应用 5．1相位衬度原理 当X射线通过一个样品时，它的振幅因为X射线被吸收而减弱，它的位相由于样品不同部分的相速差异而发生偏移，见图13。波前因为位相偏移而产生畸变，这意味着光波传播方向的改变，见图14，箭头表示位相的梯度方向。下面将证明这种畸变的波面能以可观察的强度变化显示出来。

同步辐射的基本知识 第四讲 同步辐射中的光谱术及其应用(五)

8Raman谱和非弹性散射谱8．1Raman谱（1）Raman效应1928年，印度物理学家Raman发现，当单色光作用于试样时会产生散射光。在散射光中，除了与入射光具有相同频率的Rayleigh散射光外，还发现有一系列其他频率的散射光，这些散射光对称地分布在Rayleigh散射光的两侧，且其强度要比Ray—leigh光低得多，通常只为Rayleigh光的10^-6～10^-9国倍，这种效应称为Raman效应。其中波长比Rayleigh光长的称为Stockes线，而波长比Ray—leigh光短的称为反-Stockes线。表1给出Raman散射和Rayleigh散射的能量转移模型。