期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
叠合式预制拼装混凝土综合管廊结构设计
被引量:
5
1
作者
黄碧钦
赵群昌
袁明德
《广东土木与建筑》
2019年第11期37-40,共4页
通过分析总结工程上常用的4种预制拼装综合管廊形式,《深圳市叠合式预制拼装混凝土综合管廊图集》的编制团队提出了2种叠合式预制拼装混凝土综合管廊结构体系:一字型侧墙管廊体系和L型侧墙管廊体系,并就体系特点、结构分析、拼缝连接、...
通过分析总结工程上常用的4种预制拼装综合管廊形式,《深圳市叠合式预制拼装混凝土综合管廊图集》的编制团队提出了2种叠合式预制拼装混凝土综合管廊结构体系:一字型侧墙管廊体系和L型侧墙管廊体系,并就体系特点、结构分析、拼缝连接、防水技术以及吊装技术进行系统地介绍,为今后预制拼装综合管廊技术提供参考借鉴。
展开更多
关键词
综合管廊
叠合预制
拼缝连接
下载PDF
职称材料
基于杂质离子含量评价的LTPS-LCD面板测量体系
被引量:
1
2
作者
邓文广
许叶潞
+2 位作者
温建辉
黄碧钦
金昌连
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2021年第10期1388-1394,共7页
残像是影响液晶显示器(LCD)面板品质的重要因素,残像的不良改善已成为面板工厂持续性研究课题。残像程度与杂质离子的含量正相关,为了实现对低温多晶硅(LTPS)LCD盒内杂质离子含量的监控,本文系统地对LTPS-LCD面板测试盒测量体系进行了研...
残像是影响液晶显示器(LCD)面板品质的重要因素,残像的不良改善已成为面板工厂持续性研究课题。残像程度与杂质离子的含量正相关,为了实现对低温多晶硅(LTPS)LCD盒内杂质离子含量的监控,本文系统地对LTPS-LCD面板测试盒测量体系进行了研究,并对该测量体系的稳定性、分辨能力进行了探讨。首先针对LTPS技术的面板设计了一种新的测试盒,然后采用液晶电压保持率(Voltage Holding Residual,VHR)评价盒内杂质离子含量,运用测量系统分析方法对其可靠性进行评估,最后通过对比不同紫外线(UV)照射时间与光配向烘烤时间下VHR的变化分析其分辨力。实验结果表明该测量体系的量具重复性、再现性(Gage R&R%)为10.77%,变异与流程公差(P/T)为26.93%<30%,可区分数为13>5,不同批次VHR均值维持在93%~95%,测量结果可靠、稳定,并能有效识别出VHR差异。本文设计的测试盒符合LTPS-LCD面板产业对杂质离子含量监测需求,可为工厂实际生产中杂质离子的监控提供参考。
展开更多
关键词
残像
电压保持率
LTPS-LCD
测试盒
杂质离子
下载PDF
职称材料
题名
叠合式预制拼装混凝土综合管廊结构设计
被引量:
5
1
作者
黄碧钦
赵群昌
袁明德
机构
深圳市市政设计研究院有限公司
出处
《广东土木与建筑》
2019年第11期37-40,共4页
文摘
通过分析总结工程上常用的4种预制拼装综合管廊形式,《深圳市叠合式预制拼装混凝土综合管廊图集》的编制团队提出了2种叠合式预制拼装混凝土综合管廊结构体系:一字型侧墙管廊体系和L型侧墙管廊体系,并就体系特点、结构分析、拼缝连接、防水技术以及吊装技术进行系统地介绍,为今后预制拼装综合管廊技术提供参考借鉴。
关键词
综合管廊
叠合预制
拼缝连接
Keywords
utility tunnel
composite precast
flat-fell seam connection
分类号
TV334 [水利工程—水工结构工程]
下载PDF
职称材料
题名
基于杂质离子含量评价的LTPS-LCD面板测量体系
被引量:
1
2
作者
邓文广
许叶潞
温建辉
黄碧钦
金昌连
机构
厦门天马微电子有限公司
出处
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2021年第10期1388-1394,共7页
基金
国家自然科学基金青年基金(No.61401425,No.61602432)。
文摘
残像是影响液晶显示器(LCD)面板品质的重要因素,残像的不良改善已成为面板工厂持续性研究课题。残像程度与杂质离子的含量正相关,为了实现对低温多晶硅(LTPS)LCD盒内杂质离子含量的监控,本文系统地对LTPS-LCD面板测试盒测量体系进行了研究,并对该测量体系的稳定性、分辨能力进行了探讨。首先针对LTPS技术的面板设计了一种新的测试盒,然后采用液晶电压保持率(Voltage Holding Residual,VHR)评价盒内杂质离子含量,运用测量系统分析方法对其可靠性进行评估,最后通过对比不同紫外线(UV)照射时间与光配向烘烤时间下VHR的变化分析其分辨力。实验结果表明该测量体系的量具重复性、再现性(Gage R&R%)为10.77%,变异与流程公差(P/T)为26.93%<30%,可区分数为13>5,不同批次VHR均值维持在93%~95%,测量结果可靠、稳定,并能有效识别出VHR差异。本文设计的测试盒符合LTPS-LCD面板产业对杂质离子含量监测需求,可为工厂实际生产中杂质离子的监控提供参考。
关键词
残像
电压保持率
LTPS-LCD
测试盒
杂质离子
Keywords
image sticking
voltage retention rate
LTPS-LCD
test cell
impurity ion
分类号
TN873.93 [电子电信—信息与通信工程]
TB497 [一般工业技术]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
叠合式预制拼装混凝土综合管廊结构设计
黄碧钦
赵群昌
袁明德
《广东土木与建筑》
2019
5
下载PDF
职称材料
2
基于杂质离子含量评价的LTPS-LCD面板测量体系
邓文广
许叶潞
温建辉
黄碧钦
金昌连
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2021
1
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部