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题名200mm超薄硅片边缘抛光技术
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作者
武永超
史延爽
王浩铭
龚一夫
张旭
赵权
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机构
中国电子科技集团公司第四十六研究所
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出处
《半导体技术》
CAS
北大核心
2023年第3期213-217,共5页
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文摘
在大尺寸硅片外延加工过程中,边缘损伤极易导致外延层位错的产生。厚度为450μm的超薄硅片因其机械强度较低,在边缘抛光过程中极易导致碎片产生。为此采用化学机械抛光(CMP)对8英寸(1英寸=2.54 cm)超薄硅片进行边缘抛光,通过优化工艺参数改善硅片边缘粗糙度及过抛量,并讨论了边缘抛光前后硅片倒角角度及边缘残余应力的变化。结果表明边缘抛光工序对硅片边缘去除量较小,且仅对边缘损伤层起到去除作用,因此可以有效降低硅片边缘残余应力,而对倒角角度影响较小,有助于获得边缘质量较好的硅片,为后续外延加工打下良好基础。
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关键词
边缘抛光
大尺寸超薄硅片
化学机械抛光(CMP)
边缘损伤
边缘粗糙度
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Keywords
edge polishing
large size ultra-thin silicon wafer
chemical mechanical polishing(CMP)
edge damage
edge roughness
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分类号
TN305.2
[电子电信—物理电子学]
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题名空间电池用锗抛光片的Marangoni干燥技术
被引量:1
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作者
田原
王云彪
龚一夫
耿莉
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机构
中国电子科技集团公司第四十六研究所
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出处
《节能技术》
CAS
2018年第6期552-555,共4页
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文摘
作为空间化合物太阳电池的主要衬底材料,锗抛光片对表面质量要求较高。锗片干燥阶段,采用清洁、高效的Marangoni干燥技术可避免采用传统甩干技术造成的锗片表面沾污和边缘损伤。然而锗片在Marangoni干燥过程中易产生干燥缺陷。本文分析了干燥过程中缺陷产生的原因,研究了主要影响表面质量的提拉速率和氮气吹扫时间,认为锗片Marangoni干燥应采用较慢的提拉速率和适中的氮气吹扫时间,以减少表面和边缘干燥缺陷的产生。对经过Marangoni干燥的锗片进行表面雾值分析和外延生长验证,锗片经过Marangoni干燥表面未发生变化。实验结果表明,Marangoni干燥技术可用于干燥锗抛光片。
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关键词
锗片
Marangoni干燥
表面质量
异丙醇
光点缺陷
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Keywords
Germanium wafer
Marangoni drying
surface quality
isopropanol
light point defect
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分类号
TN304
[电子电信—物理电子学]
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题名美的瞬间
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作者
龚一夫
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机构
上海兰田中学
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出处
《新读写》
2019年第2期5-6,共2页
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文摘
那天,我和朋友在街上闲逛。信刚七的时代,娱乐项目不少,朋友一边刷着“某音”,一边激动地说:“哎呀,我家女神的动态刷新了!”还像打了鸡血一样兴奋地拽着我,让我看。“哎,不愧是我家女神,连回头都这么美!”说罢,不由分说把手机放在我面前,“你看看,是不是很漂亮?”我原本对这些事不感兴趣,懒得看,但奈何他几乎把手机贴在了我脸上,不看吧,又不太好意思,就瞄了二眼。
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关键词
瞬间
娱乐项目
朋友
女神
手机
原本
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分类号
B83
[哲学宗教—美学]
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