单片机数字信息采样系统

介绍了由单片机构成的４位数字信息采样系统。这一系统可将所关心的某段时间内的数字信息存储起来，在需要时用普通示波器显示。因此，利用这一系统和普通示波器，就可构成多通过数字信息存储示波器或简易逻辑分析仪。将软件和硬件稍加变化。

具有自选功能的可编程电子音乐电路综合实验

本文提出的实验内容将集成脉冲电路、组合电路、时序电路有机地联成一个整体,它涉及的集成电路包含了大部分数字电路实验器件,并借助单板机对EPROM编写程序。虽然这里提出的电路结构较为繁琐,但作为综合运用数字逻辑电路的实例,通过设计、调试以培养学生分析问题的能力和实验的兴趣,可供有关专业实验室参考。

用双迹示波器观察两个波形时相位正确同步的探讨

众所周知,用示波器观察两个有时间关系的波形时,除调节电平旋钮外,还应注意选用长周期信号作为触发信号。通常就可正确、稳定地显示出两个被测波形,但对一些不均匀的周期波形来说,仅注意选用长周期信号作为触发信号是不够的,还必须知道扫描时间对显示波形的影响。否则,所显示的两个波形虽是稳定的,但相位关系却可能是错的。本文就示波器应用中经常遇到的问题。

数字集成电路的自动扫描测试

三、计数器的自动扫描测试 计数器品种较多,而且功能各异,测试电路也不完全相同。本文主要介绍常用的T213和74LS90计数器的测试电路。 1.计数器T213的测试电路 T213的输出有选择地反馈到R_0(1)、R_0(2)、R_0(3)、R_0(4)端,便可构成N(≤16)进制计数器。在作为二进制计数器使用时,R_0(1)～R_0(4)中至少有一端要接地。如果R_0(1)～R_0(4)全部为高电平(或悬空),则计数器处于置0状况。C_r为异步置0端。

通用阵列逻辑GAL构成的脉冲电路

由于通用阵列逻辑GAL 器件的通用性很强,它不仅可取代许多PAL 器件,而且可以构成PAL 所没有的逻辑结构,加之它又具有可反复编程、功耗小等许多独特优点,因此越来越广泛地被工程技术人员所采用。本文介绍的是用GAL 实现给定逻辑电路的方法,并给出用GAL 所构成的单稳和多谐电路。通过计算机和编程器对GAL 编程,就可用已编程的GAL,加定时元件和少量连线构成单稳和多谐电路,且稳定性很好。

运算放大器的自动测试系统

本文所介绍的测试系统并不给出运放参数的具体数值,而是将被测运放参数测出后与规范值比较,判断几个主要参数是否满足规范值的要求,然后通过指示电路分别指示比较结果,因而该系统将特别适用于对批量运放进行筛选。运算放大器的参数较多,且其测试电路不完全相同,甚至相差较大,如果要对所有参数都进行测试比较,其测试电路势必非常复杂,而通常运放应用中只需满足几个主要参数,故本文只对运放的失调电压U_(IO)。

数字集成电路的自动扫描测试(续)

二、触发器的自动扫描测试 这部分将介绍D触发器T076和JK触发器T078的测试电路,其它触发器的测试电路亦可用类似方法构成。

一种新型可编程逻辑器件GAL的结构及应用

本文介绍普通型GAL的结构和输出逻辑宏单元OLMC的7种组态类型,并在此基础上分析了实际应用中对引脚配置的限制.

关于ABEL软件若干应用技术问题的探讨

ABEL软件是新一代高效可编程逻辑器件(PLD)设计工具。本文对ABEL开发软件的GAL器件库定义、逻辑功能描述方法、测试向量的确定以及源文件的处理等关键应用技术问题进行了深入探讨。正确运用这些技术对于提高可编程器件的逻辑设计效率和可靠性具有实际意义。

单片机在运算放大器测试系统中的应用

本文介绍单片机在运算放大器测试系统中的应用。由于采用了单片机,测试系统得以智能化,且灵活性大,可自动测试集成运算放大器的失调电压、失调电流、共模抑制比和开环增益等主要参数。还可用于单运算放大器、双运算放大器和四运算放大器的测试。整个系统结构简单,测试方便、快速。