用康扫描(ComScan)系统对低原子序数材料进行康普顿背散射层析X射线照相

近来一种基于检测康普顿背散射辐射的新的简单的背散射成象系统问世。它优于现行的穿透系统:具有实时三维成象能力,即使对低原子序数材料仍有高衬度与背散射成象几何结构。结果表明,该系统可能用于现代产品中日益重要的轻合金、层压件与塑料的检测。