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ADC最佳方案的选择及其发展趋势 被引量:1
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作者 atsushi kawamoto Richard Reay 《电子设计应用》 2005年第1期12-18,共7页
关键词 ADC 基带 数字电路 信号处理 链路 RF 射频 高速模数转换器 系统设计 领域
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高速度、低功耗和真正同时采样的SAR ADC
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作者 Steve Logan atsushi kawamoto 《电子产品世界》 2008年第2期110-112,132,共4页
对于从几Hz到几MHz模拟信号的快速数字化,逐次逼近型(SAR)ADC是很多应用的最佳选择。SARADC的快速响应和低延迟使其非常适用于单通道或多通道的数据采集。 低功率SARADC至关重要,因为越来越多的设计开始采用较低的电源电压和较严... 对于从几Hz到几MHz模拟信号的快速数字化,逐次逼近型(SAR)ADC是很多应用的最佳选择。SARADC的快速响应和低延迟使其非常适用于单通道或多通道的数据采集。 低功率SARADC至关重要,因为越来越多的设计开始采用较低的电源电压和较严格的功率预算。就需要单个输入信号的设计师来说,解决方案尺寸也是一个关键要求, 展开更多
关键词 同时采样 高速度 低功耗 逐次逼近型 模拟信号 数据采集 快速响应 功率预算
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精准型工业系统要求新的数据转换准确度水平
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作者 atsushi kawamoto Jesper Steensgaard +1 位作者 Mark Thoren Heemin Yang 《今日电子》 2013年第8期30-32,36,共4页
许多工业系统都需要以最高的准确度来测量关键性的参数。实例包括地震监测、能源勘探、气流感测和硅晶圆制造等。在每种场合中,这些系统均拓展了尖端信号处理技术的界限并要求ppm的准确度。此类系统的设计高度精细复杂,并内置了宽动态... 许多工业系统都需要以最高的准确度来测量关键性的参数。实例包括地震监测、能源勘探、气流感测和硅晶圆制造等。在每种场合中,这些系统均拓展了尖端信号处理技术的界限并要求ppm的准确度。此类系统的设计高度精细复杂,并内置了宽动态范围传感器、高阶控制环路和最高性能的集成电路组件。 展开更多
关键词 工业系统 准确度 数据转换 信号处理技术 宽动态范围 地震监测 能源勘探 晶圆制造
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高性能ADC使ATE系统准确度达到全新水平
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作者 atsushi kawamoto Jesper Steensgaard Heemin Yang 《中国电子商情》 2013年第11期65-67,共3页
许多ATE系统必须以极高的准确度测量关键参数,因为这类系统的准确度必须远高于它们所测试的器件。新式ATE系统要求百万分之一(ppm)的准确度,促使最新信号处理技术取得了突破性进展。这类系统的设计非常复杂,需要性能最高的集成电... 许多ATE系统必须以极高的准确度测量关键参数,因为这类系统的准确度必须远高于它们所测试的器件。新式ATE系统要求百万分之一(ppm)的准确度,促使最新信号处理技术取得了突破性进展。这类系统的设计非常复杂,需要性能最高的集成电路组件。在ATE系统中,ADC起到了关键作用,它将信号从模拟域转换到数字域,以进行数字信号处理。ADC的准确度和性能常常决定了系统的总体准确度和性能。本文讨论突破性数据转换性能在实现新一代准确度更高、成本更低的ATE系统时所发挥的作用。 展开更多
关键词 准确度 ATE ADC 系统 性能 信号处理技术 数字信号处理 集成电路
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控制系统借助高性能数据转换取得进步
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作者 atsushi kawamoto Jesper Steensgaard Heemin Yang 《电子与电脑》 2011年第3期50-53,共4页
引言许多工业控制系统都通过采用精细复杂的高次控制环路来保持某种关键参数(电气、机械、热力或液压)的精准调节。在这个技术发展日新月异的时代,控制系统设计人员在实现其设计目标的过程中正面临着前所未有的挑战。系统必须比以往... 引言许多工业控制系统都通过采用精细复杂的高次控制环路来保持某种关键参数(电气、机械、热力或液压)的精准调节。在这个技术发展日新月异的时代,控制系统设计人员在实现其设计目标的过程中正面临着前所未有的挑战。系统必须比以往更快、更准确和更灵活。 展开更多
关键词 工业控制系统 数据转换 性能 关键参数 控制环路 设计目标 设计人员 功能集成
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Topology optimization based on reduction methods with applications to multiscale design and additive manufacturing 被引量:1
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作者 Emmanuel TROMME atsushi kawamoto James KGUEST 《Frontiers of Mechanical Engineering》 SCIE CSCD 2020年第1期151-165,共15页
Advanced manufacturing processes such as additive manufacturing offer now the capability to control material placement at unprecedented length scales and thereby dramatically open up the design space.This includes the... Advanced manufacturing processes such as additive manufacturing offer now the capability to control material placement at unprecedented length scales and thereby dramatically open up the design space.This includes the considerations of new component topologies as well as the architecture of material within a topology offering new paths to creating lighter and more efficient structures.Topology optimization is an ideal tool for navigating this multiscale design problem and leveraging the capabilities of advanced manufacturing technologies.However,the resulting design problem is computationally challenging as very fine discretizations are needed to capture all micro-structural details.In this paper,a method based on reduction techniques is proposed to perform efficiently topology optimization at multiple scales.This method solves the design problem without length scale separation,i.e.,without iterating between the two scales.Ergo,connectivity between space-varying micro-structures is naturally ensured.Several design problems for various types of micro-structural periodicity are performed to illustrate the method,including applications to infill patterns in additive manufacturing. 展开更多
关键词 multiscale TOPOLOGY optimization MICRO-STRUCTURE ADDITIVE manufacturing reduction techniques SUBSTRUCTURING static CONDENSATION SUPER-ELEMENT
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