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高温栅偏压和高温反偏压应力对PT-IGBT性能的影响
1
作者 C.O.MAIGA b.tala-ighil +3 位作者 H.TOUTAH b.b.UDART 许平 刘鹿生 《电力电子》 2006年第5期58-62,共5页
本文阐述了在高温栅偏压(HTGB)和高温反偏压(HTRB)应力条件下对穿通型(PT)IGBT性能的影响。在140℃、经历1200小时完成应力试验。获得了在上述两种不同应力下,有关开关型工作参数和测量结果的定量变化。由于IGBT的老化,定性分析了开关... 本文阐述了在高温栅偏压(HTGB)和高温反偏压(HTRB)应力条件下对穿通型(PT)IGBT性能的影响。在140℃、经历1200小时完成应力试验。获得了在上述两种不同应力下,有关开关型工作参数和测量结果的定量变化。由于IGBT的老化,定性分析了开关时间漂移对PWM逆变器运作的影响。 展开更多
关键词 偏压应力 栅偏压 高温 性能 PWM逆变器 应力条件 应力试验 工作参数
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