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杨教授视点 智能电网技术 15kVSiCIGBT的发展及其对电力应用的影响(中)
被引量:
1
1
作者
JUN
WANG
+13 位作者
ALEX
Q.
HUANG
WOONGJE
SUNG
YU
LIU
B.
JAYANT
baliga
张永鑫(译)
田书欣(译)
杨喜军(译)
姜建国(译)
《变频器世界》
2010年第5期22-23,共2页
15-kV SiC IGBT的设计与优化 图3给出了15-kVN沟道4H-SiC IGBT的半单元截面图。4H-SiC n^+衬底上生长有外延层。厚3μm、1×10^19cm^-3掺杂的P+发射极层是第一个外延层。其后是n型底部缓冲层(场塞),厚5μm,掺杂浓度1×10^1...
15-kV SiC IGBT的设计与优化 图3给出了15-kVN沟道4H-SiC IGBT的半单元截面图。4H-SiC n^+衬底上生长有外延层。厚3μm、1×10^19cm^-3掺杂的P+发射极层是第一个外延层。其后是n型底部缓冲层(场塞),厚5μm,掺杂浓度1×10^17cm^-3,可以防止场击穿,同时实现了较好的性能折中。
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关键词
电网技术
电力应用
4H-SIC
智能
IGBT
掺杂浓度
外延层
N沟道
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职称材料
题名
杨教授视点 智能电网技术 15kVSiCIGBT的发展及其对电力应用的影响(中)
被引量:
1
1
作者
JUN
WANG
ALEX
Q.
HUANG
WOONGJE
SUNG
YU
LIU
B.
JAYANT
baliga
张永鑫(译)
田书欣(译)
杨喜军(译)
姜建国(译)
出处
《变频器世界》
2010年第5期22-23,共2页
文摘
15-kV SiC IGBT的设计与优化 图3给出了15-kVN沟道4H-SiC IGBT的半单元截面图。4H-SiC n^+衬底上生长有外延层。厚3μm、1×10^19cm^-3掺杂的P+发射极层是第一个外延层。其后是n型底部缓冲层(场塞),厚5μm,掺杂浓度1×10^17cm^-3,可以防止场击穿,同时实现了较好的性能折中。
关键词
电网技术
电力应用
4H-SIC
智能
IGBT
掺杂浓度
外延层
N沟道
分类号
TM727 [电气工程—电力系统及自动化]
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题名
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出处
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1
杨教授视点 智能电网技术 15kVSiCIGBT的发展及其对电力应用的影响(中)
JUN
WANG
ALEX
Q.
HUANG
WOONGJE
SUNG
YU
LIU
B.
JAYANT
baliga
张永鑫(译)
田书欣(译)
杨喜军(译)
姜建国(译)
《变频器世界》
2010
1
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