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采用综合法封装MEMS加速仪
被引量:
2
1
作者
Jian Wen
Vijay Sarihan
+1 位作者
bill myers
Gary Li
《电子产品世界》
2011年第11期8-8,10-12,共4页
MEMS封装系统应有MEMS执行感应功能,而且还要避免受到外界环境的影响,同时持续地改进质量,达到较高的ppm性能。本文采用SOIC封装,必须维持一个特定的共振频率,从而防止传感器被粘住或卡住。同时,封装必须确保传感器是可靠和完整的,没有...
MEMS封装系统应有MEMS执行感应功能,而且还要避免受到外界环境的影响,同时持续地改进质量,达到较高的ppm性能。本文采用SOIC封装,必须维持一个特定的共振频率,从而防止传感器被粘住或卡住。同时,封装必须确保传感器是可靠和完整的,没有出现断裂或输出偏差。本文采用一种综合学科研究方法,以确定合适的固晶材料来彻底解决器件断裂的问题。这种方法涉及振动分析、电气响应测定、压力分析和断裂力学。
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关键词
MEMS
封装
加速仪
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职称材料
题名
采用综合法封装MEMS加速仪
被引量:
2
1
作者
Jian Wen
Vijay Sarihan
bill myers
Gary Li
机构
飞思卡尔半导体
出处
《电子产品世界》
2011年第11期8-8,10-12,共4页
文摘
MEMS封装系统应有MEMS执行感应功能,而且还要避免受到外界环境的影响,同时持续地改进质量,达到较高的ppm性能。本文采用SOIC封装,必须维持一个特定的共振频率,从而防止传感器被粘住或卡住。同时,封装必须确保传感器是可靠和完整的,没有出现断裂或输出偏差。本文采用一种综合学科研究方法,以确定合适的固晶材料来彻底解决器件断裂的问题。这种方法涉及振动分析、电气响应测定、压力分析和断裂力学。
关键词
MEMS
封装
加速仪
分类号
TP211.4 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
采用综合法封装MEMS加速仪
Jian Wen
Vijay Sarihan
bill myers
Gary Li
《电子产品世界》
2011
2
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职称材料
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