数字系统的内装自测试

本文概述了数字系统的内装自测试(BIST)的原理和实现。在第Ⅰ部分,作者提出了BIST的各种论点以及经济上的优劣,并介绍了有关的分层测试结构。解释了基本BIST的模式产生和响应分析概念。在第Ⅰ部分还补充讨论了LFSR理论,在第Ⅱ部分,将讨论BIST的硬件实现、应用和工具。