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采用SACVD改善器件电学性能
1
作者
cary ching
Harry Whitesell
+1 位作者
Shankar
Venkataraman
《集成电路应用》
2008年第6期26-29,共4页
采用臭氧/正硅酸乙酯(O3/TEOS)基前驱物,通过次大气压化学气相沉积(SACVD)在深宽比高于8:1的STI和深宽比高于6:1的PMD应用中展现了优异的填充性能,并提高了器件的驱动电流,改善了PN结漏电。此外,在器件沟道区施加局部应力的方法也得到...
采用臭氧/正硅酸乙酯(O3/TEOS)基前驱物,通过次大气压化学气相沉积(SACVD)在深宽比高于8:1的STI和深宽比高于6:1的PMD应用中展现了优异的填充性能,并提高了器件的驱动电流,改善了PN结漏电。此外,在器件沟道区施加局部应力的方法也得到了证实。
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关键词
电学性能
器件
化学气相沉积
填充性能
驱动电流
局部应力
深宽比
前驱物
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职称材料
题名
采用SACVD改善器件电学性能
1
作者
cary ching
Harry Whitesell
Shankar
Venkataraman
机构
Applied Materials Inc.
出处
《集成电路应用》
2008年第6期26-29,共4页
文摘
采用臭氧/正硅酸乙酯(O3/TEOS)基前驱物,通过次大气压化学气相沉积(SACVD)在深宽比高于8:1的STI和深宽比高于6:1的PMD应用中展现了优异的填充性能,并提高了器件的驱动电流,改善了PN结漏电。此外,在器件沟道区施加局部应力的方法也得到了证实。
关键词
电学性能
器件
化学气相沉积
填充性能
驱动电流
局部应力
深宽比
前驱物
分类号
TN303 [电子电信—物理电子学]
TB383 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
采用SACVD改善器件电学性能
cary ching
Harry Whitesell
Shankar
Venkataraman
《集成电路应用》
2008
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