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采用SACVD改善器件电学性能
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作者 cary ching Harry Whitesell +1 位作者 Shankar Venkataraman 《集成电路应用》 2008年第6期26-29,共4页
采用臭氧/正硅酸乙酯(O3/TEOS)基前驱物,通过次大气压化学气相沉积(SACVD)在深宽比高于8:1的STI和深宽比高于6:1的PMD应用中展现了优异的填充性能,并提高了器件的驱动电流,改善了PN结漏电。此外,在器件沟道区施加局部应力的方法也得到... 采用臭氧/正硅酸乙酯(O3/TEOS)基前驱物,通过次大气压化学气相沉积(SACVD)在深宽比高于8:1的STI和深宽比高于6:1的PMD应用中展现了优异的填充性能,并提高了器件的驱动电流,改善了PN结漏电。此外,在器件沟道区施加局部应力的方法也得到了证实。 展开更多
关键词 电学性能 器件 化学气相沉积 填充性能 驱动电流 局部应力 深宽比 前驱物
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