期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度 被引量：7
1
作者 李志宏 巩雁军 +7 位作者 吴东 孙予罕 王俊 柳义 董宝中 WANG JUN LIU YI dong bao-zhong 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2001年第6期1128-1131,共4页
溶胶界面层厚度通常是用Porod法对高角区负偏离的Porod曲线进行拟合求算 ,但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均半径之差而获得平均界面厚度 .
关键词 小角X射线散射 溶胶 平均界面厚度 二氧化硅溶胶 Porod法 曲线拟合
原文传递
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部