关于可测性问题的讨论——高质量与高价格

今年的VLSI测试讨论会在美国东部城市新泽西举行。这次讨论会是围绕“高水平的测试质量是否就意味着高造价的测试设备”这个主题而展开的。参加这次讨论会的都是ATE的使用者。他们是:Hewlett-Packard的Bulentdervisoglu,AT＆T的Jose Miranda, IBM的Phil Nigh,还有Boeing的Steve Tanemura。他们做出了相似的答案,也就是就目前来说,高水平的测试质量确实需要高造价的测试设备,然而,在今后,有可能通过可测性的设计,降低对测试设备的要求,从而降低测试设备的价格。

正确选择SMT板的测试技术

1 前言 测试含有表面安装元件的PCB组装件是比较困难的。其最大障碍是超出测试探针所能达到的间距。表面安装元件尺寸小——远远小于通孔元件,由于元件尺寸小,它的引脚间距更密,测试夹具的制造变得更为困难。

利用边界扫描进行系统级测试

本文简要介绍了测试总线IEEE 1149.1和IEEE P1149.5,并指出可以利用这两种总线进行系统级测试。究竟选择哪一种总线,要取决于用户的应用和经济承受能力。

如何将计算机连接到VXI总线系统中

VXI总线的一个杰出的性能是它的灵活性。对几乎所有的测试应用项目都具有相应的现成仪器。而且当你没有找到你所需要的仪器时,你可用一个数字转换器加上合适的软件来自己制作一台仪器。此外,你可采用任何一种普通的计算机或操作系统去控制你的VXI总线系统。然而,这个灵活性中有一个问题,即你一旦选用了一个计算机,你必须了解如何将它连接到你的VXI总线的主机架上。

真的需要在额定速率(真速)下测试吗?

来自大多数自动测试设备和集成电路制造厂的回答是肯定的!虽然一些制造厂商认为可以以较低速度正确地测试器件,但大多数厂商认为要保证集成电路的质量就必须在最高的时钟速度时进行测试。集成电路一直在变得愈来愈快,起初的PC机只有1兆赫兹或2兆赫兹的时钟速度。现在,顶极PC机可以在66兆赫兹下工作。明天,工作站可能有超过100兆赫兹的时钟频率。集成电路用户不但要求更高的性能,还要求更高的芯片质量。十五年前。